詳細摘要： SENresearch 4.0 是 SENTECH 新的光譜橢偏儀。每一臺 SENresearch 4.0 光譜橢偏儀都是根據客戶具體配置的光譜范圍、選項和現場...
產品型號：所在地：上海更新時間：2024-08-09 在線留言上海德竹芯源科技有限公司
上海德竹芯源科技有限公司
詳細摘要： SENresearch 4.0 是 SENTECH 新的光譜橢偏儀。每一臺 SENresearch 4.0 光譜橢偏儀都是根據客戶具體配置的光譜范圍、選項和現場...
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詳細摘要： 光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜...
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詳細摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400a...
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詳細摘要： RM1000 和 RM2000 代表 SENTECH 反射儀。臺式裝置包括高度穩定的光源、具有自動準直透鏡和顯微鏡的反射光學部件、高度和傾斜可調的樣品臺、光譜光...
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詳細摘要： 高分辨率X射線衍射儀，主要用途為測量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半導體材料...
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詳細摘要： 2830 ZT 波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圓分析儀專門針對半導體和數據存儲行業而...
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詳細摘要： Camtek為半導體行業提供廣泛的檢測和量測解決方案。Camtek的檢測和量測設備能夠在高產量下可靠地檢測出有缺陷的IC，確保只有已知良好的芯片才能最終交付給客...
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詳細摘要： PHI Quantera II 掃描XPS探針是 ULVAC-PHI 公司新研發的XPS分析儀器，是在 Quantum 2000 和 Quantera SXM ...
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詳細摘要： 動態二次離子質譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產生二次離子，然后用質譜分析儀分析二次離子的質荷比（m/q），從而得知元素在樣...
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詳細摘要： PHI 4700 以 AES 分析技術為基礎，搭配高靈敏度的半球型能量分析器、 10 kV LaB6 掃描式電子槍、5 kV 浮動柱狀式Ar離子槍及高精密度的自...
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詳細摘要： PHI Quantes 雙掃描 XPS 探針是以 Quantera II 系統為基礎，進行技術升級后得到的新版本。PHI Quantes 的主要特點，是擁有同焦...
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詳細摘要： PHI 710 掃描俄歇納米探針是一臺高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設備能分析納米級特征區域，超薄薄膜和多層結構材料表界面的元素態和化學態信息。作為高空...
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詳細摘要： LUXET THERMO 100 是一款全國產化的鎖相紅外顯微成像系統。配備了全自動運動系統、高靈敏度制冷型中波紅外相機、廣角鏡頭與大倍率顯微鏡頭、高壓源表，可...
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詳細摘要： LUXET THERMO 50 是一款基于非制冷紅外相機的鎖相紅外顯微成像系統。配備了電動垂直運動系統、高幀頻長波紅外相機、廣角鏡頭與顯微鏡頭、高壓源表，可以適...
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詳細摘要： Strain Viewer 內應力檢測儀具備透光材料內應力分布測量及缺陷篩查等檢測功能。
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詳細摘要： PHI X-tool 是 PHI XPS 系列產品中的新成員。（同時結合了PHI Quantera-II 和PHI VersaProbe-III的功能）PHI ...
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詳細摘要： Stress Mapper 晶圓翹曲應力測量儀具備三維翹曲（平整度）、薄膜應力、納米輪廓、宏觀缺陷成像等檢測功能，適用于半導體晶圓生產、半導體制程工藝開發、玻璃...
產品型號：所在地：上海更新時間：2024-08-08 在線留言
詳細摘要： VersaProbe 4 配置了新設計的能量分析器，能實現從微區到大面積的高靈敏度分析。同時還具備高精度的角度接受器、自動荷電中和技術以及多樣化的選配方案等特性...
產品型號：所在地：上海更新時間：2024-08-08 在線留言
詳細摘要： 紅外加熱型升溫脫附質譜儀TDS1200II是一種通過質譜儀實時觀測樣品在超高真空中編程升溫時脫附的分子的分析儀。
產品型號：所在地：上海更新時間：2024-07-28 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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