兩箱式溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
采用上下兩箱(上箱高溫、下箱低溫),中間為提藍(lán),就是可以放置樣品的地方,提藍(lán)通過(guò)傳動(dòng)裝置上下切換,在高低溫兩箱中進(jìn)行快速轉(zhuǎn)換。
適用標(biāo)準(zhǔn):
GB/T5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗(yàn)方法Ab
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb
GB/T2423.22-2002(IEC60068-2-14:1984) 試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
GJB 150.3-1986 高溫試驗(yàn)
GJB 150.4-1986 低溫試驗(yàn)
GJB 150.5-1986 溫度沖擊試驗(yàn)