誼邦電子科技YB6500半導體測試系統功能更加強大，可測試十九大類二十七分類大、中、小功率的半導體分立器件：系統主要參數如下：
主極電壓：2000V
主極電流： 50A 加選件可擴展到：400A，500A,800 A，1000 A,1300A.(用戶自選)
電壓分辨率：1mV
電流分辨率：1nA （加YB550分辨率為10pA）
控制極電壓：20V
控制極電流：10A
YB6200半導體管測試儀|西安誼邦電子科技有限公司生產|符合《GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法》，
YB6200半導體管測試儀在研究所、院校、企業、電子產品廠家用做IQC部門半導體分立器件的直流參數測試；可連接分選機。
通過增加選件YB580-500，可以擴展主極電流到500A,滿足MOSFET、IGBT等功率器件測試需求
1.電學指標
A-K 極間加壓范圍: ±100mV--2000V
A-K 極間測流范圍: ±100nA--49.90A
A-K 極間加流范圍: ±100nA--49.90A
A-K 極間測壓范圍: ±100mV--2000V
G-K 極間加壓范圍: ±100mV--20V
G-K 極間測流范圍: ±100nA--10A
G-K 極間加流范圍: ±100nA--10A
G-K 極間測壓范圍: ±100mV--20V
zui大電壓分辨率: 5mV
zui大電流分辨率: 1nA
A-K 極間加/測壓精度: 1%+10mV
A-K 極間加/測流精度: 1%+10nA+20pA/V
G-K 極間加/測壓精度: 1%+5mV
G-K 極間加/測流精度: 1%+10nA+20pA/V
電參數測試重復性： 2%
2. 可測試器件（DUT）種類
| 序號 | 類型名稱 | 符號 |
| 1 | 二極管 | DIODE |
| 2 | 穩壓（齊納）二極管 | ZENER |
| 3 | 晶體管 | TRANSISTOR（NPN/PNP） |
| 4 | 單向可控硅（普通晶閘管） | SCR |
| 5 | 雙向可控硅（雙向晶閘管） | TRIAC |
| 6 | 金屬-氧化物-半導體場效應管 | MOSFET（N-CH/P-CH） |
| 7 | 結型場效應管 | J-FET（N-CH/P-CH） |
| 8 | 絕緣柵雙*功率晶體管 | IGBT（N-CH/P-CH） |
| 9 | 達林頓陣列器件 | DARLINGTON |
| 10* | 光電耦合器 | OPTO-COUPLER（NPN/PNP） |
| 11* | 光電邏輯器件 | OPTO-LOGIC |
| 12* | 光電開關管 | OPTO-SWITCH |
| 13* | 固態過壓保護器 | SSOVP |
| 14* | 硅觸發開關 | STS，SBS |
共計14大類。
* 需要另行定制專門的測試適配器和測試夾具。
3.技術特征
該系統產品為供方引進的合作技術項目，功率電源等方面采用新的航天技術做了改進，各項技術指標同于進口產品，測試穩定性、可靠性高于進口產品，故障率明顯低于進口產品。代表了目前*技術水平。具有下面特征：
* 采用嵌入式計算機，運行速度快，擴展能力強，實現脫機運行；
* 采用高速16位并行D/A、A/D和并行內部總線技術設計，速度快、穩定性高；
* 采用脈沖法測試參數、脈寬可為300μS，占空比可達1/3000以上；
* 采用多級開爾文技術，系統穩定性高，測試結果準確，重復性好；
* 在線系統狀態、測試結果、故障定位顯示功能，使得使用方便簡單；
* 完整的系統自檢、校準能力，10分鐘將系統故障定位到元件級，30分鐘完成系統精度檢測；
* 完整的軟、硬件升級/擴展功能；
* DUT引腿接觸性測試、加壓限流能力、A-K短路保護、過壓/過流保護等能力，保證了系統安全，有效防止DUT損傷；
* 關鍵元器件均采用進口原裝，精密電阻采用國產軍級，全部采用進口原裝濕型繼電器，裝焊工藝現已采用航天工藝線代工，保證系統可靠性高于進口產品；
* 二極管極性自動判別功能，不需人工關注極性，提高操作速度，減少失誤；
* 填表式編程，3分鐘內即可完成一個新器件編程；
* 混合參數編程方式，使電參數測試編程不受器件類別的限制，支持技術人員實現分析編程；
* 單參數測試延時功能，用戶可根據需要選擇參數測試延遲時間，增加參數測試穩定性；
* 提供系統內部流性負載、阻性負載選擇和外部負載接口，zui大極限地滿足測試需求；
* 計算步功能，允許將任意測試程序步的測試結果列式計算，形成新的參數，方便新參數定義；
* 分類、分檔功能，以便通過編程確定DUT的同異性，測試后自動分類、分檔、配對等，提高
DUT使用價值；
* 單步測試功能，用于對單個參數進行測試，同時將測試結果值在前面板上顯示，方便在線分析；
* 完整的其它后測試處理能力；
* 所有測試夾具進行了誤差補償和噪聲抑制設計。
