半導體分立器件測試儀基礎配置：
技術參數 | ENJ2005-B型 |
主極電流 | 100nA-50A |
擴展電流 | 100A、500A、1000A、1300A |
電壓分辨率 | 1mV |
電流分辨率 | 1nA(可擴展至10pA) |
測試精度 | 0.2%+2LSB |
測試速度 | 0.5mS/參數 |
半導體分立器件測試儀
是專為測試半導體分立器件和大功率半導體模塊器件而研發設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確測試以下類型的半導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列：
序號 |
測試元件類別 |
別稱 |
1 | 二極管 | DIODE |
2 | 晶體管 | TRANSISTOR（NPN型/PNP型） |
3 | J型場效應管 | J-FET |
4 | MOS場效應管 | MOS-FET |
5 | 雙向可控硅 | TRIAC |
6 | 可控硅 | SCR |
7 | 絕緣柵雙*功率晶體管 | IGBT |
8 | 硅觸發可控硅 | STS |
9 | 達林頓陣列 | DARLINTON |
10 | 光電耦合 | OPTO-COUPLER |
11 | 繼電器 | RELAY |
12 | 穩壓、齊納二極管 | ZENER |
13 | 三端穩壓器 | REGULATOR |
14 | 光電開關 | OPTO-SWITCH |
15 | 光電邏輯 | OPTO-LOGIC |
16 | 金屬氧化物壓變電阻 | MOV |
17 | 固態過壓保護器 | SSOVP |
18 | 壓變電阻 | VARISTOR |
19 | 雙向觸發二極管 | DIAC |
