上海德竹芯源科技有限公司
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產(chǎn)品型號SENpro
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時間：2024-06-06 07:45:35瀏覽次數(shù)：260次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進行組合分析等特點。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜范圍與精密的 SpectraRay/4 軟件相結(jié)合，可輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。
成本效益
● SENpro 是具成本效益的光譜橢偏儀，同時不影響測量性能。
可變?nèi)肷浣?/font>
● 光譜橢偏儀 SENpro 包括可變?nèi)肷浣堑慕嵌扔嫞?0°—90°，步進值 5°，用于優(yōu)化橢偏測量。
步進掃描分析器
● SENpro 具有步進掃描分析器。在數(shù)據(jù)采集過程中，偏振器和補償器固定，以提供高的橢偏測量精度。
● 光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進行組合分析等特點。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜范圍與精密的 SpectraRay/4 軟件相結(jié)合，可輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。
● 具有成本效益的桌面式 SENpro 包括可見光到近紅外橢偏儀光學，5° 步進角度計，樣品臺、激光準直器、光纖耦合穩(wěn)定光源和探測器單元。SENpro 配備了用于系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析的光譜橢偏儀軟件 SpectraRay/4 ，用于包括建模，擬合和報告輸出。即使對于初學者，該程序文件操作都非常容易。SpectraRay/4 支持計算機控制的用于均勻性測量的自動掃描。
● SENpro 專注于薄膜測量的速度和精度，不管是何種薄膜應用。測量范圍從 1 nm 的薄層膜到 15 μm 的厚層膜。
● 對于各種各樣的應用，SpectraRay/4 都提供了預定義的配方。
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