氧化鋯氧量分析儀(掛壁式) 型號:SYS-ZO-801
氧化鋯氧分析儀是近幾十年發展起來的新型測氧儀器，因其具有結構簡單、維護方便、反應速度快、測量范圍廣等特點，而廣泛應用于電力、冶金、供暖、建材、電子等部門，分析各種工業鍋爐及窯爐中煙氣的氧含量。
- 大屏幕ＬＣＤ顯示屏
- 全中文操作菜單
- 實時時鐘顯示
- 具有定時自動存儲功能、可隨時查看存儲數據
- 具有無紙記錄儀功能，自動記錄氧濃度隨時間的變化曲線
- 可設置上、下限報警點、具有報警接點輸出
- 可用標準氣在線校準
- 可選擇輸出電流為0-10mA或4-20mA
技術指標： - 測量范圍：0～5、10、25%O2（3位有效數）
- 精度：±2%
- 線性度：量程的±1%（模擬量輸出）
- 重復性：量程的±0.5%（模擬量輸出）
- 穩定性：量程的±2%/7d（滿量程）
- 負載電阻：0～1.6kΩ（0～10mA）;0～800Ω（4～20mA）
- 功耗：<80W
- 電源：220V±10%
- 環境溫度：轉換器：0～40℃；檢測器：-10～80℃
- 樣氣溫度：0～600℃（200～400℃佳）
- 樣氣壓力范圍：-500～+500mmH2O
- 響應時間：≤5s（達90%測量值）
- 檢測器長度：0.4m;0.8m;1.0m;1.2m
- 轉換器外形尺寸：200×250×90mm（寬×長×厚）
- 轉換器安裝尺寸：170×230mm
北京恒奧德儀器儀表有限公司
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地址：北京市海淀區阜成路42號院6號C-211
2.顆粒圖像分析儀/顯微圖像分析系統/顯微圖像儀 型號LY-2006
顆粒圖像分析儀/顯微圖像分析系統/顯微圖像儀 型號LY-2006
LY-2006型顯微圖像分析系統是我公司研制的一種圖像法顆粒分析儀器。它是傳統的顯微鏡法與現代的圖像處理技術相結合的產物。它的基本工作流程是通過數字攝象機抓拍顆粒在顯微鏡下的圖像并傳輸到計算機中，通過專業的顆粒圖像分析軟件對圖像進行處理與分析， 經顯示器和打印機顯示和輸出分析結果。本儀器具有直觀、準確、測試范圍寬等特點，不僅可以直接觀察到顆粒形貌，還可以計算出每個顆粒粒徑和圓形度以及粒度分布和圓形度分布，為科研、生產領域增添了一種新的粒度測試手段。
一、LY-2006顆圖像分析儀基本參數
- 測試范圍：1-3000微米；
- 顯微鏡：中外合資光學顯微鏡（可選配其他種類顯微鏡，如進口顯微鏡、金相顯微鏡等）；
- 數字攝像機：300萬像素；
- 大光學放大倍數：1600倍；
- 系統總放大倍數：5000倍；
- 大分辨率：0.1微米/像素；
- 重復性誤差：<3%（不包含樣品制備因素造成的誤差）。
二、數字攝像機基本參數
- 像素尺寸：3.2μm X 3.2μm；
- 傳感器類型：逐行掃描CMOS；
- 輸出顏色：bayer彩色；
- 數據位數：紅綠藍各10選8；
- 光學尺寸：1/2英寸；
- 鏡頭接口：CS,C；
- http://51658042
- 信噪比：43dB；
- 動態范圍：60dB；
- 清晰度：>1000線；
- http://51658042
- 曝光方式：ERS；
- 同步方式：外觸發或連續采集；
- 輸出方式：USB2.0；
- 數據傳輸距離：數據傳輸距離5米（加中繼可達25m）；
- 可編程控制：圖像尺寸、亮度、增益、幀率、曝光時間；
- 供電要求：5V；
- 功耗：<2.25W；
- 外形尺寸（mm）：54.5x54.5x46.1（含接圈）、38x38x38.7（不含接圈）。
三、儀器組成與圖像分析原理
- 儀器組成：
- LY-2006型顯微圖像分析系統包括粒度分析軟件、數字攝像機、顯微鏡、電腦、打印機等組成部分。
- 分析原理：
- 通過對顆粒數量和每個顆粒所包含的像素量的統計，計算出每個顆粒的等效面積圓和等球體積，從而得到顆粒的等效圓面積直徑和等球體積直徑以及圓形度等參數，再對所有的顆粒進行分級統計，從而得到粒度分布、圓形度分布等信息。
四、LY-2006顆粒圖像分析儀軟件功能
- 圖像處理功能：
- 對圖像進行灰度轉換，二值化，分割，刪除，剪切，粘貼，縮放，填充等一系列處理，得到顆粒清晰的黑白二值化圖像。
- 數據處理功能：
- 通過對圖像進行處理，測量軟件自動統計出顆粒個數，然后計算每個顆粒所包含的像素數，得出顆粒的面積、等效直徑、等效周長、實際周長、圓形度等參數。通過粒度分級，得到用戶需要的粒度分布表和分布圖以及d10、d50、d90等典型參數，并可根據需要選擇個數分布或體積分布。
- 軟件輸出項目：
- 包括原始數據（樣品信息和測試信息）；分析數據（粒度分布表/粒度分布圖）；圖形（頻率分布直方圖和累計分布曲線）；典型結果（中位徑，平均徑，圓形度等）。
- 報告輸出功能：
- 可以打印原始圖像和多種測試報告，包括粒度報告，圖像報告，圓形度報告以及粒度和典型圖像的綜合報告。
五、LY-2006顆粒圖像分析儀適用領域
- 研磨材料：白剛玉、金剛石、碳化硅、碳化硼、氧化鈰等；
- 電池材料：石墨、鈷酸鋰等；
- 其他：可用來觀察各種非金屬粉、金屬粉以及其他粉體。
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