雙棱鏡光干涉實驗儀 光干涉實驗儀 型號：HAD-SGS-II

1826年法國科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將一束相干光的波前分成兩部分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。此光干涉實驗的物理思想、實驗方法與測量技巧,具有很深的教學價值。
儀器特點：      
●  導軌和轉盤采用高強度鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、不會生銹、經久耐用。
技術參數：      
●  導軌：長80.0cm，分度值1mm；  

●  滑塊5只，其中1個滑塊上帶轉動裝置；  

●  帶轉盤的狹縫，縫寬0.03-0.04mm；     
●  測微目鏡和支架，測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm；  

●  光源：半導體激光器，光波長650.0nm，工作電壓直流3V。
實驗內容：
●  觀察雙棱鏡的干涉現象；     
●  測量激光器的波長。
 （注：鈉光燈及電源選配）。