全自動臺式涂層測厚儀及膜厚儀X-Strata920：無損測厚儀，X射線熒光鍍層測厚儀，是PCB、FPC、LED、SMT、聯接器、支架和封裝、五金產品（螺栓、螺釘類等緊固件）、端子、汽車零部件、衛浴潔具等行業的生產商、供應商重要的檢測工具；也被眾多的高校、檢測中心所使用。是牛津儀器經過多年的醞釀，發布的新一代鍍層測厚儀；是CMI900的升級換代產品；在CMI900基礎上，改進了系統安全部件、系統軟件進行了更新、測量結果進行多樣化的輸出,是X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀；具有非破壞、非接觸、無損測量；一鍵定焦，有效避免人為操作誤差；操作簡單，測量僅需三個步驟；快速簡潔，耗時10秒即可得出測量結果。是質量控制、節約成本的檢測工具。
全自動臺式涂層測厚儀及膜厚儀工作原理： 對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
日立新款X-Strata920鍍層測厚儀具有什么樣的特點？
X-Strata920鍍層測厚儀是日立儀器推出的性價比*的X射線鍍層測厚儀，它結合了大面積正比計數探測器和牛津儀器微聚焦X射線光管，使X射線光束強度大、斑點小，樣品激發更佳，確保同級別中精確性度，分析結果只需要幾秒鐘，從而獲得更有效的過程控制和性價比。
