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產地	國產	加工定制	是

LED測試儀（工程實驗）LED光物性量測 LED進料檢驗儀

型號：JC-LED601
LED測試儀LED光物性量測 LED進料檢驗儀分析儀器本系統提供實驗室等級的LED量測系統。使用高精刻度的光譜、穩定的A光源、設計精良的光強分布箱、偵測器、積分球、及人性化的電腦操作軟件，提供全光譜、色溫、色度、波長、功率、光強度、光強分布、及照度等的全功能自動控制，達到需要的待測物各種光參數的量測。本系統由積分球、偵測器、光譜儀、電流計、光強分布箱、及電腦控制為主要元件，搭配*開發之控制軟體，在簡易的操作介面之下，擔高測試準確度。并可達到自行校正波長及照度校正。選用本系統進行LED晶片生產及封裝廠已有科學園區多家廠商。

LED測試儀LED光物性量測 LED進料檢驗儀分析儀器 此套系統使用的是掃描（scanning)式的光譜儀，解析度高，量測穩定。為了滿足使用者多樣的需求，提供了不同的測度項目，包括了IV，（X，Y），λd，λp，TC，CRI，FWHM，IP，VF，IR，IF，VF與THY。它也能測量不同形式的LED，例如LED CHIP，SMD，LAMP，MODULE，LED DISPLAY。

LED測試儀LED光物性量測 LED進料檢驗儀分析儀器測試項目及規格

量測項目	規格
Reverse Current (逆向電流) (IF)	0-1,00uA
Reverse basic voltage（逆向電壓）(Vf)	0-50Vprogrammable
Forward Current (順向電流) (IF)	0.1-1000mA
Forward basic voltage(順向電壓 )(Vf)	0-20Vprogrammable
Peak Wavelength(尖峰波長)(λp)	350-1050nm
Luminance intensity(光強度)	0-50,000mcd
Radiance intensity (輻射強度)	0-5000mW/sr
Color Temperature(色溫)	1000-20,000K
Dominant Wavelength(主波長) (λd)	400-700nm
Chromaticity coordiantes(色度坐標)	CIE (x,y)
Correlated Color temperature (相對色溫)	CCT,1,000-100,000K
Purtiy(純度)
FWHM(半寬波長)	0-200nm
Center Wavelength(中心波長)	350-1050nm
Centroid Wavelength(重心波長)	350-1050nm
CRI(演色指數)	0-

適用范圍

*LED晶片廠研發部及品管部，LED封裝廠研發部及品管部，LED來料檢驗
*精準度到小數點4位小數，是實驗室等級的光譜儀。隨機附精密校正檔及光學計算分析軟體程序（DLLs）可用于對其他的儀器做校正用，提供全光譜、色溫、色度、波長、CRI及光強度等全功自動控制，達到需要的待測物各種光參數的量測。

系統特色

*全自動化量測設計，操作介面簡單
*使用者可自行與標準樣品校正，無須負擔龐大的校正費用
*軟體可配合使用者的習慣或需要做部分修改；
*可產生各種使用者所需單色光譜光源及功率
*采用CIE 1931, 和CIE1976 U.C.S標準及演算等方法

系統硬件

型號	規格
光譜儀	ARC SP-150,400-1100nm,解析度0.1nm
optimum積分球	ISP-050,50mm積分球
Picoanmeter電流計	Keithley#6485
電源供應器	Keithley#2400
optimum system controller	Windows系統自動控制操作程式 software driver,desktop pcg LCD monitor console軟體規格為VisualBasic 6.0開發,相容Windows 98以上版本
optical components	偵測器,三色光源,光源箱,光纖及其他光學配件