EB-IV型電子束實驗儀
EB-IV型電子束實驗儀
用途和目的：
* 研究電子在電場和磁場中運動變化規律；
* 了解示波管的構造和各電*的作用；
* 掌握電子束在橫向電場作用下電偏轉運動規律；
* 掌握電子束在縱向不均勻電場作用下的電聚焦運動規律；
* 掌握電子束在橫向磁場作用下的磁偏轉運動規律；
* 掌握電子束在縱向磁場作用下的磁聚焦運動規律，地測定電子荷質比。
參數及特點：
* 示波管（8SJ31J）
* 聚焦電壓：280～380V
* 加速電壓：-850～-1300V
* 偏轉電壓：-80～+80V
* Y軸電偏轉靈敏度：＞0.4mm/V
* Y軸磁偏轉靈敏度：＞0.3mm/mA
* 磁聚焦恒流源Z大輸出電流：2.5 A（Ⅱ型自備）
* 電子荷質比測量誤差：≤5%
用途和目的：
* 研究電子在電場和磁場中運動變化規律；
* 了解示波管的構造和各電*的作用；
* 掌握電子束在橫向電場作用下電偏轉運動規律；
* 掌握電子束在縱向不均勻電場作用下的電聚焦運動規律；
* 掌握電子束在橫向磁場作用下的磁偏轉運動規律；
* 掌握電子束在縱向磁場作用下的磁聚焦運動規律，地測定電子荷質比。
參數及特點：
* 示波管（8SJ31J）
* 聚焦電壓：280～380V
* 加速電壓：-850～-1300V
* 偏轉電壓：-80～+80V
* Y軸電偏轉靈敏度：＞0.4mm/V
* Y軸磁偏轉靈敏度：＞0.3mm/mA
* 磁聚焦恒流源Z大輸出電流：2.5 A（Ⅱ型自備）
* 電子荷質比測量誤差：≤5%
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