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產地	進口	加工定制	否

光學膜測厚儀KURABO倉敷紡織膜厚計

測量用途

通過偏光膜的水分測量的產品卷曲的管理

保護膜厚度管理和水分

防反射涂層或硬涂層厚度

粘合劑涂層厚度

粘合劑的連續脫泡·供給機

※牛蒡連續脫泡機

偏光膜的碘、硼酸的濃度測量

光學膜測厚儀KURABO倉敷紡織膜厚計

測量規格

測光方式紅外吸收方式

分光方式旋轉過濾方式（可安裝6張）

測量距離 22.5mm（兩傳感器頭間距離：45mm）

測量面積 7×13mm（橢圓

主機規格

傳感器頭部外形尺寸：投光、受光傳感器均為225（W）×145（D）×80（H）（不含突起部）

重量：投光、受光單元均為3kg

中繼單元部外形尺寸：260（W）×140（D）×113（H）（不含突起部）

重量：3kg

電源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA

外部輸出 RS422A的上位PC的數字輸出（9600BPS）

使用溫度 5～40℃（無結露）

光學膜測厚儀是一種精密測量儀器，主要用于測量薄膜的厚度。以下是光學膜測厚儀的主要作用：

光學涂層制備：在光學元件制造中，光學膜測厚儀可用于評估薄膜的厚度和均勻性，確保涂層符合設計要求4。

薄膜研究與開發：研究人員可以使用光學膜測厚儀來了解不同材料和工藝條件下薄膜的生長過程、光學特性和結構變化，為新材料和新工藝的開發提供依據4。

薄膜品質控制：在薄膜生產過程中，光學膜測厚儀可用于實時監測薄膜的厚度，檢測偏差和缺陷，確保產品質量和一致性4。

高精度測量：光學膜測厚儀具備很高的測量精度，通常可達到亞納米級別。這種高精度保證了對細微薄膜厚度變化的敏感性和可靠性4。

寬波長范圍：光學膜測厚儀可以涵蓋從紫外到紅外的寬波長范圍，適用于不同材料的薄膜測量需求4。

快速測量速度：光學膜測厚儀具備快速的數據采集和處理能力，能夠在短時間內完成多個點位的測量，提高實驗效率

光學膜測厚儀KURABO倉敷紡織膜厚計

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