當前位置：湘潭華豐儀器制造有限公司>>新型電子綜合*試驗機>>綜合測試儀>> SDT-A陶瓷介質損耗角正切及介電常數測試儀
SKE 型數顯式精細陶瓷（抗壓強度，壓縮強度，彎曲強度（SGW））試驗
該儀器適用于各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷材料以及各種高分子材料、復合材料測試介電常數和介質損耗角正切值。通過測試tanδ及ε，可以進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據。
主要技術參數：
1．頻率范圍為：50K～50MHZ；七波段誤差：±2%
2．Q值范圍及誤差：
范圍：5~500；
誤差：①頻率從50~250KMZ：±5~±7%
②頻率從250K~50MH：±10%
③△Q范圍-25~0~+25
3．電感測量范圍及誤差：0.1µh~100mh；誤差：±5%；±0.01µm
4．試樣尺寸：圓片形δ=2±0.5；Ф30～40mm
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