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功率器件動態參數測試系統

專業測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態時間參數特性，測試范圍可達3500V 4000A

功率器件動態參數測試系統

l 3500V 4000A超寬測試范圍

l 適用于全種類的功率器件

l 模塊化設計，適應不同需求

l 可滿足定制化需求

l 的測試性能

l 中文系統，用戶友好性

l 高可靠性

動態測試項目

l 開通測試：Tdon、Tr、Ton、Eon

l 關斷測試：Tdoff、Tf、Toff、 Eoff

l 柵極特性：Qg

l 反向恢復測試：Trr、Qrr、Irm、Erec

l SC：Idmax、Vdsmax

適用產品

l 兼容各種封裝方式的：Si基，SiC基的各種功率器件單管及模塊

項目	內容	平臺設計值	備注
工作環境	設備輸入電壓	220V	±10%
	設備輸入頻率	50HZ	±5%
	設備輸入電流	<45A	/
驅動電壓	Vge	Vgon=0~+30V可調 Vgoff=0~-30V可調（5V≤Vgon-Vgoff≤30V）	通過計算機設定；精度±3%
脈沖寬度	單、雙脈沖時間可調	<4us（總時間）	通過計算機設定
母線電壓	波動范圍	±3%	/
功率回路寄生電感	寄生電感	<15nH	/
開關特性	開通特性	Td(on): 5-400ns Tr: 5-400ns Ton: 5-1000ns Eon：1-500mJ	1. Rgon/Rgoff=客戶焊接電阻 2. 開通測試發雙脈沖，脈沖時間在計算機輸入，<4us（總時間） 3. 關斷測試發單脈沖，脈沖時間在計算機輸入，<4us（總時間） 4. 分辨率：0.1ns 5. 測試精度±5%
開關特性	關斷特性	Td(off)：5-400ns Tf: 5-400ns Toff: 5-1000ns Eoff: 1-500mJ
二極管反向恢復特性	反向恢復	Trr: 5-400ns Qrr:1nC~100uC Irm:0~400A Erec:1~500mJ	1. 發雙脈沖，脈沖時間在計算機輸入，<4us（總時間） 2. 分辨率：0.1ns 3. 測試精度±5%
SC	關斷電流Idmax 關斷峰值電壓Vdsmax	Idmax:0~6000A Vdsmax:0V~1500V	1. 發單脈沖，脈沖時間<4us，脈沖時間在計算機輸入 2. 分辨率：0.1ns 3. 測試精度±5%
柵極特性	柵電荷	Qg: 1nC~100uC	1. 漏極電壓50V~1500V 2. 分辨率：0.1ns 3. 測試精度±5%