我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用,可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作，快速和無損的分析。可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的14Si到92U。

MAXXI 6針對較薄而復雜的樣品，具有的解決方案。MAXXI 6配備多準直器系統及超大樣品艙，是功能性與檢測精度兼備的理想工具。

亮點：

• 采用微聚焦X射線光管，實現高精度，高可靠性，測量時間短，購置成本低
• 采用高分辨率的硅漂移探測器(SDD),提供能量級別的效率，極低的檢出限（LOD)
• 多準直器可優化不同尺寸樣品熒光信號產額，提高測量效率
• 開槽式超大樣品艙設計，十分適合電路板或其他超大平板樣品
• “USB接口 ”只需通過USB與計算機連接，無需額外的硬件或軟件
• 德國制造，符合工程標準，堅固耐用的設計可實現長期可靠性
• 通過PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)認證，滿足輻射安全標準
• 最多同時測定5層，15種元素及共存元素的校正
• 同時實現多于25種元素的定量分析
• 檢測方法通過ISO3497，ASTM B568，DIN50987和IEC 62321等認證
• 對ROHS和貴金屬進行工廠預裝校準（可選）