輪廓測定儀采用白光軸向色差原理（性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀）對樣品表面進行快速、重復性高、高分辨率的三維測量，測量范圍可從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌，臺階高度
產品名稱：
輪廓測定儀
產品應用：
輪廓測定儀采用白光軸向色差原理（性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀）對樣品表面進行快速、重復性高、高分辨率的三維測量，測量范圍可從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌，臺階高度，給MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學元件、陶瓷和*材料的研發(fā)和生產提供了一個精確的、價格合理的計量方案。
技術參數：
垂直測量范圍：27mm
垂直分辨率：<2nm
掃描速度：1m/s
橫向分辨率：5nm
可視區(qū)域：400*600mm
技術參數：
垂直測量范圍：27mm
垂直分辨率：<2nm
掃描速度：20mm/s
橫向分辨率：0.1m
測量范圍：150mm×150mm
產品特性：
1.采用白光軸向色像差技術，可獲得納米級的分辨率
2.測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高
3.尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面
4.不受樣品反射率的影響
5.不受環(huán)境光的影響
6.測量簡單，樣品無需特殊處理
7.Z方向max測量范圍為27mm
8.測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)
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