詳細摘要： 牛津儀器CMI563表面銅厚測量儀專為測量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設計。
產品型號：CMI563所在地：上海市更新時間：2018-05-15 在線留言安柏來科學儀器（上海）有限公司
安柏來科學儀器（上海）有限公司
詳細摘要： 牛津儀器CMI563表面銅厚測量儀專為測量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設計。
產品型號：CMI563所在地：上海市更新時間：2018-05-15 在線留言
詳細摘要： CMI730能同時為磁性基材上的非磁性涂/鍍層、導性基材上的非導性涂/鍍層以及磁性基材上的電鍍鎳層提供高科技的無損涂鍍層厚度檢測。
產品型號：CMI730所在地：上海市更新時間：2018-05-15 在線留言
詳細摘要： CMI760(PCB銅厚測試儀)牛津儀器CMI760測厚儀專為滿足印刷電路板行業銅厚測量和質量控制的需求而設計。
產品型號：CMI760所在地：上海市更新時間：2018-05-15 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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