作為中國XRF分析技術領域核心創新能力的研發團擔了國家“七·五"科技攻關項目--能量色散X熒光多元素分析技術研發、“九五"科技攻關項目-波長色散X熒光分析技術研技又承擔了國家“十一五"攻關項目--RoHS等環保指令中XRF分析技術的應用方案保指令的*的新型XRF分析技術研發；每一次科技攻關項目的圓滿完成，都代表著中國XRF和不斷發展的里程碑。

詳細介紹

RoHS及無鹵檢測儀，鍍層測厚儀

產品名稱：X熒光光譜儀

產品型號：NaU1000

品牌：納優

主要配置

● 美國si-pin電致冷半導體探測器

●側窗鉬（Mo）靶管

●標配12組復合濾光片

● 采用Be窗的X光管可以顯著提高低能X射線出射長度

● 具備符合中國國家標準的樣品混測功能

● 具備開放工作曲線技術平臺

● 分析軟件操作系統分級管理

產品參數

名稱：X熒光光譜儀

輸入電壓：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

環境溫度:15-30℃

環境溫度：≤80%（不結露）

主機外形（mm）：長*寬*高＝820*500*425

樣品倉：長*寬*高＝430*380*105

主機重量:約55公斤

技術指標

測量元素范圍：S-U

測量時間：對聚合物材料，典型測量時間為200秒

精密度（Pb,Br,Cr,Hg）≤15ppm Cd≤7ppm

準確度（Pb,Br,Cr,Hg）≤100ppm Cd≤10ppm

對銅基材料，典型測量時間為400秒

精密度Pb≤50ppm, 準確度Pb≤150ppm

*注1：項目課題：出口機電產品綠色貿易壁壘應對技術及應用；子課題：支持RoHS指令的新型X熒光分析儀開發與企業應用；項目組織單位：*；課題負責人：楊李鋒（納優科技公司總）。

*注2：《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規范》為范圍內首部用于評價能量色散X熒光光譜儀的性能的參照范本，其中包括：安全性能、儀器硬件基本性能指標及分析方法配置、精密度指標測試、準確度指標測試、典型材料（聚合物、金屬等）中各種有害元素的檢出限、儀器對不同基體材料測量的適應性和擴展性及其它性能參數等測試項目以及儀器性能評價步驟等，對于X熒光光譜儀生產廠家和購買儀器的用戶均有實際參考指導意義。

*注3：該檢測必須“一機一檢”，其檢測內容、方法及步驟等均以《RoHS檢測用X熒光能譜儀（XRF）性能評價規范》（見注2）為準。檢測報告也稱儀器檢測鑒定證書，該證書zui大的特點就是“*性”，一機一證，證書封頁注明儀器出廠編號、檢測報告編號的同時，需蓋有賽西實驗室矩形騎縫章印。

關鍵詞：測厚儀光譜儀標準

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