當前位置:蘇州吉恩斯檢測技術服務有限公司>>測厚儀>>鍍層厚度檢測儀>> FISCHERSCOPEX射線XUL臺式鍍層厚度測試儀
測量范圍 | 0-60um | 測量精度 | 0.001um |
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產地 | 進口 | 加工定制 | 否 |
重量 | 68kg |
FISCHERSCOPE®X射線XUL®系列正是每個電鍍車間的基礎設備。這些簡單易用且價格適中的能量色散X射線熒光分析儀非常適合監控鍍液成分,但在質量控制方面也是*的幫手:堅固耐用,非常適合測量批量生產的零件(如螺母和螺栓)上的電鍍層 。
XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中;或者,對于較小的物品(例如插頭),儀器可以配備手動樣品臺。盡管測量設備緊湊,但它們為您的試樣提供了足夠的空間-高度可達17厘米。
如果您有多種不同的測量任務,FISCHERSCOPE X射線XULM擁有可互切換的過濾器和準直儀,因此您可以為所有應用創造合適的測量條件。 此外,XULM具有內置的微聚焦管,即使在測量點微小和鍍層很薄的情況下也能提供精確的結果。
久經考驗的比例計數管(PC)具有較大的感應面積,因此可實現較高的計數率。它非常適合于帶有較小測量點上較厚鍍層的測量。但是,由于它提供的能量分辨率較低且靈敏度有限,尤其是對于輕元素,因此僅部分適合于要求高的測量任務。
硅PIN二極管是一種中檔的探測器。它具有比比例接收器更好的分辨率,但測量面積很小。它既可以用于材料分析,也可以用于鍍層厚度測量。但是對于較小的測量點,需要相對較長的測量時間。
高質量的X射線熒光設備采用硅漂移探測器(SDD)。這種類型的檢測器具有*的能量分辨率,這意味著它甚至可以檢測樣品中濃度非常低的元素的輻射。此外,此類設備可以確定納米級別的鍍層厚度,并可以輕易地分析復雜的多鍍層結構。
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