僅需要幾分鐘時間，Duetto就能提供：

A.  XRD分析礦物及物相鑒定

B.  XRF元素分析

兩種技術均采用反射幾何技術，無需接觸物件

當X射線接觸物件時，同時產生XRD和XRF信號

X射線衍射（XRD）

入射X射線照射在樣品上，會在特定的角度產生與入射光能量相同的衍射信號，從而實現結晶相和礦物鑒別；

X射線熒光（XRF）

入射X射線接觸到樣品時，會使樣品內的原子受激發產生X射線熒光，向四周發散，從而判斷元素組成。

XRD有效角度=20°～55°2θ

→在機械部件與衍射角度范圍之間妥協

→小角衍射需要精密控制設備與分析表面的距離

XRF能量范圍=3到25KeV

Duetto由于其*的構造及可彎曲分析頭，可適用于分析各種各樣的樣品。

將分析頭放置于三腳架上，使用激光測量工具將分析頭對齊到被測試物件，即可收集XRF及XRD數據。

Duetto

鎘橙-CdS（Se摻雜）-顏料

鎘橙-商業產品

10 exposures – 5 分鐘

100 exposures – 50 分鐘

1000 exposures – 8.3 小時

美國蓋蒂博物館

? XRD 分辨率: 0.25°2θ FWHM

? XRD 范圍: 20-55°2θ: 機械部件的妥協

? XRF 能量分辨率: 200 eV at 5.9 keV

? XRF 能量范圍: 3 to 25 keV

? XRD 幾何構造: 反射法

?樣品要求: 平面或凸起（不限尺寸）

? X-ray 陽極材料: Co or Cu (Cu 標配)

? X-ray 射線管電壓: 30kV

? X-ray射線管功率: 10W

?探測器類型: 1024 x 256 像素 - 2D 帕爾貼-自冷卻 CCD探測器

?數據存儲容量: 40 Gb

?無線連接: 802.11 b/g r

?電池驅動 (4 hours 支持熱交換)

?工作溫度: -10°C to 35°C

?尺寸: 48.5 x 39.2 x 19.2 cm 基體; 8.5 X 16 X 4 cm 頭部

?重量: 12 kg 基體; 7kg 頭部