詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe Vis薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe Vis所在地：上海市更新時(shí)間：2025-06-23 在線(xiàn)留言
鉑悅儀器（上海）有限公司
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鉑悅儀器（上海）有限公司
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe Vis薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe Vis所在地：上海市更新時(shí)間：2025-06-23 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：反射光譜干涉法是一種非接觸式、無(wú)損的、快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù)。
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe系列所在地：上海市更新時(shí)間：2025-06-23 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線(xiàn)測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe MSP所在地：上海市更新時(shí)間：2025-06-23 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe RT所在地：上海市更新時(shí)間：2025-06-23 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe NIR所在地：上海市更新時(shí)間：2025-06-23 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe UVVisSR所在地：上海市更新時(shí)間：2025-06-23 在線(xiàn)留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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