詳細摘要: 邊界掃描測試發展于上個世紀90年代,隨著大規模集成電路的出現,印制電路板制造工藝向小,薄發展,傳統的ICT測試已經沒有辦法滿足這類產品的測試要求。由于芯片的引腳...
產品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言
深圳市卓能達自動化測試技術有限公司
詳細摘要: 邊界掃描測試發展于上個世紀90年代,隨著大規模集成電路的出現,印制電路板制造工藝向小,薄發展,傳統的ICT測試已經沒有辦法滿足這類產品的測試要求。由于芯片的引腳...
產品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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