LST-331四探針方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

詳細介紹

LST-331普通四探針方阻電阻率測試儀

一、LST-331四探針方阻電阻率測試儀描述：

采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

二.LST-331四探針方阻電阻率測試儀參照標(biāo)準(zhǔn)：

硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

三.適用范圍：

適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補償，并帶有溫度補償功能，自動轉(zhuǎn)換量程；采用芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報表

用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品

規(guī)格型model	LST-331
1.方塊電阻范圍	10^-5～2×10^5Ω/□
2.電阻率范圍	10^-6～2×10^6Ω-cm
測試電流范圍	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度	±0.1%
5.電阻精度	≤0.3%
6.顯示讀數(shù)	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率
7.測試方式	普通單電測量
8.工作電源	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.誤差	≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購功能	選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.
11.測試探頭	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
12.標(biāo)準(zhǔn)電阻（選購）	規(guī)格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

四、.型號及參數(shù)

五、標(biāo)準(zhǔn)配置外訂購明細：

序號	型號	品名	單位	數(shù)量	備注
1	340-CSX	測試線	套	1
2	09A	標(biāo)準(zhǔn)電阻	個	1-5	選購規(guī)格和數(shù)量
3	06A	四探針測試平臺	套	1	含探頭1個
4	06B	四探針探頭	個	1	方型或直線型選購
5	340-TTZ	鍍金彈簧銅針4根	組	1	4根為一組
6	340-WTZ	彈簧鎢針4根	組	1	4根為一組
7	340-RJ	分析軟件	套	1
8	PC	電腦+打印機	套	1	依據(jù)客戶要求配置
9	300-JL	檢測技術(shù)服務(wù)	份	1	計量證書1份
10	WDCGQ	溫度傳感器	套	1	常溫-125度
	331-YB	延保服務(wù)	年	1-3