當前位置：HORIBA-堀場（中國）貿易有限公司>>產品展示>>顆粒物監測系統
光掩模（Reticle/Mask）顆粒探測系統 PR-PD2是通過激光散射方式對曝光工藝中光掩模上的細小顆粒進行檢測的裝置。可檢測光掩模圖案面（Pattern ...
外形小巧、運營成本低、應用范圍廣光掩模（Reticle/Mask）顆粒探測系統PR-PD3系列產品運轉效率高，具有*穩定性，受到眾多半導體制造工廠的高度評價。繼...
半導體工廠對高效和功能性有很高的要求,而Horiba PD系列正因良好的操作性及*的穩定性享有盛譽。光掩模（Reticle/Mask）顆粒探測系統 PR-PD2...
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，儀表網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
