HY（IC）IC卡動態彎扭試驗機

技 術 參 數

配  置

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次                                         

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊Z大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊Z小位移量為2mm±0.50mm，

短邊Z大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊Z小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸*按照國家標準執行。

儀器加罩前的尺寸是：

長：74.5cm，寬：38cm  高：30cm

儀器加罩后的尺寸是：

長：78cm，寬：42.5cm  高：30cm

1、 IC卡動態彎扭試驗機主機一臺；

2、配置：

1）常用調試工具一套：

2）中國臺灣STK交流調速電機系統一套；

3）中國臺灣衡翼高精度齒輪減速系統一套；

4）高精度光電計數器一套

4）中國臺灣衡翼高精度計數系統一套；

3、產品用途：

   用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。