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吉時利 Keithley 2601B-PULSE 10 µs 脈沖發生器/SMU 使用范圍：半導體生產測試、半導體器件設計晶體管檢定、IDDQ 測試與待機電流測試、多針裝置測試

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更新時間：2025-04-28 10:31:05瀏覽次數：86次

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產品簡介

通道數 1 臺脈沖發生器/1 臺 SMU 脈沖發生器 V/I 范圍 1 μA - 10 A 1 μV - 10 V SMU V/I 范圍 100 fA - 10 A 100 nV - 40 V 精度脈沖發生器：0.05% SMU：0.015% 速度 1 M 個讀數/秒

詳細介紹

無需手動脈沖調整即可實現高脈沖保真度

通過 2601B-PULSE 控制回路系統，高達 3μH 的負載變化無需手動調整，從而確保在任何電流水平（ 10 安培）下輸出 10 μs 至 500 μs 脈沖時，脈沖均不會出現過沖和振蕩。脈沖上升時間 < 1.7="" μs，確保您可以正確檢定被測器件或電路。="">

輸出 10 A @ 10 V，脈沖寬度為 10 μs
脈沖上升時間 <1.7μs，可輕松檢定>
高保真脈沖輸出，在任何電流水平下均無需調整

將快速脈沖發生器功能與 SMU 功能集成至一臺儀器中

2601B-PULSE 在業界的吉時利 2601B SMU 儀器所提供的測量完整性、同步性、速度和準確性基礎上新增脈沖發生器功能。

通過 1 MS/s 的數字化功能，實現脈沖發生器 0.05% 的基本測量精度
SMU 100 nA 低電流范圍與 100 fA 靈敏度
后面板 BNC 連接實現電纜快速設置

嵌入式腳本和連接提供的生產吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術可在 SMU 儀器內嵌入和執行完整測試程序，提供業界性能。TSP-Link® 技術支持擴展多達 32 個 TSP 鏈路節點，以創建高速、SMU-Per-Pin 并行測試（而不使用主機）。

消除與 PC 之間耗時的總線通信
高級數據處理和流量控制
連接多達 32 個 TSP 鏈路節點
隨著測試要求變化輕松重新配置

應用

ToF/LIDAR 應用的激光二極管 (VCSEL) 生產測試

2601B-PULSE 是激光二極管垂直腔表面發射激光器 (VCSEL) LIV 生產測試的理想解決方案，采用高速高精度 10μs 脈沖發生器和 SMU，可用于 VCSEL、VCSEL 陣列和激光二極管模塊的電流脈沖源和電壓-電流監測。SMU 提供實惠的 LIV 儀器，系統同步和吞吐量高。

可編程脈沖電流源可達 10 A 電流和 10 µs 脈沖寬度
電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 100 fA
內置 TSP® 處理功能可減少 PC和儀器總線通信

如何使用 2601B-PULSE System SourceMeter SMU 儀器生成 10 μs 脈沖當輸出低至 10 µs 的脈沖時，新型電流脈沖發生器/SMU 無需耗時的手動計時

故障分析和質量保證

半導體公司和半導體研究人員不斷尋找方法，使測試設備不會成為其在半導體領域有所突破的阻礙。半導體故障分析 (FA) 工程師耗時無數，試圖了解設備故障的原因及在將來如何預防。

通過 SMU 和脈沖測試簡化 FA 過程
數字 I/O 觸發外部 IR 攝像機
內置定時器功能，分辨率為 1μs，精度為 ±100 ppm。

使用源測量單元和鎖定熱成像技術進行故障分析的技術

2601B-Pulse Pulsed DC I-V LED Characterization

簡化的 LED 脈沖式/直流 I/V 檢定

2601B-PULSE 的電流脈沖、直流電壓和電流功能可實現高速 LED 直流和脈沖 IV 檢定及生產測試，具有 0.015％的基本測量精度。對 microLED、LED 或高亮度 LED (HBLED) 執行脈沖測試可地減少自發熱，并減少對測量精度的負面影響，此外，無需擔心損壞被測器件。

可編程電流源可達 10 A 電流和 10 µs 脈沖寬度
電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 100 fA
1 M 樣點/秒數字化器，用于快速采集和測量數據
內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

晶圓半導體測試

Keithley 2601B-PULSE 和其他系列 2600B System SourceMeter® SMU 儀器將堆架式儀器的可擴展性和靈活性與基于主機系統的集成和高吞吐量相結合，使用 TSP 和 TSP 鏈路技術減少制造活動和測試成本。這些儀器通常用于激光二極管、LED、晶體管等晶圓半導體測試。