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全自動光譜分析儀3

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更新時間：2022-10-13 13:54:12瀏覽次數：92次

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產品簡介

熒光光譜儀是一款全元素上照式光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區RoHS檢測及多元素成分分析，*的算法及解譜技術解決了諸多業界難題。性能優勢： 1. 微小樣品檢測：最小測量面積0.0085mm2 2. 變焦裝置算法：可改變測量距離

詳細介紹

儀器簡介：

XAD是一款上照式全元素光譜分析儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區RoHS檢測及多元素成分分析，*的算法及解譜技術解決了諸多業界難題。

被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

產品優勢：

微小樣品檢測：最小測量面積0.008mm2

變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-90mm

自主研發的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量

*的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限

高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積20/50mm2探測器

X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置

上照式設計：實現對超大樣品或者密集點位進行快、準、穩高效率測量

可編程自動位移：選配自動平臺，X210*Y230*Z145mm行程內無人值守自動測量

多準直器自動切換

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