當(dāng)前位置：深圳譜線跳動科技有限公司>>X熒光光譜儀>>XAD全自動光譜分析儀5

XAD全自動光譜分析儀5

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地深圳市

在線詢價收藏產(chǎn)品

聯(lián)系方式：張經(jīng)理查看聯(lián)系方式

更新時間：2022-10-13 13:46:34瀏覽次數(shù)：142次

聯(lián)系我時，請告知來自儀表網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  X熒光光譜儀

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

深圳譜線跳動科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：17條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：張經(jīng)理

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

XAD系列熒光光譜儀是一款全元素上照式光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，*的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。性能優(yōu)勢： 1. 微小樣品檢測：最小測量面積0.0085mm2 2. 變焦裝置算法：可改變測量距離

詳細介紹

儀器簡介：

XAD是一款上照式全元素光譜分析儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，*的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

微小樣品檢測：最小測量面積0.008mm2

變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-90mm

自主研發(fā)的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量

*的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限

高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積20/50mm2探測器

X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置

上照式設(shè)計：實現(xiàn)對超大樣品或者密集點位進行快、準、穩(wěn)高效率測量

可編程自動位移：選配自動平臺，X210*Y230*Z145mm行程內(nèi)無人值守自動測量

多準直器自動切換

其他推薦產(chǎn)品更多>>