上海集昊機電科技有限公司
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相對于便攜式XRF，有更多的元素可以分析
相對于便攜式XRF，有更多的元素可以分析。元素氫（H）到鈉（Na）可通過Z進行測量，但不能由便攜式XRF測定。這包括像碳，鋰，鈹，硼，鈉和其他關鍵元素。相比于便攜式XRF，由于該技術的光學性質，Z在低得多的檢測下限可測量鎂，硅，鋁等元素。
一、特性
1、分析元素周期表中從 H 到 U 的所有元素，內置 SciAps 的高分辨率光譜議。
2、可選氬氣凈化技術： 專用于分析波長小于 200nm 的元素，如 C 元素；可降低所有元素的檢測下限。
3、源光源：1532nm 5mJ 激光 激光安全等級：1 級（與投影用激光筆屬同一安全和等級）對眼睛不會產生危害 .
4、1 秒出測試結果
5、兩維可調節自動對焦激光束，激光束直徑 50uM ，自動求和并計算平均值
6、內置高清照相機及視頻成像系統，支持圖片文件保存樣品測試結果,選擇與查看精確聚焦激光測試點,精確定位特定測試的檢測點 , 驅動！內置安卓應用平臺，操作簡單， 一看就會;其無線， 藍牙，GPS 功能可與任何安卓系統設備如手機，平板同步信息,結實耐用！與手持 XRF 相比，*擺脫了對易損的硅 Pin 或硅漂移探測器的依賴
7、在元素分析及材料類型分析領域， 激光誘導擊穿光譜(LIBS)分析儀提供一種能取代手持 X 射線熒光光譜儀及火花直讀光譜儀的技術。與光學火花發射光譜（OES)技術類似，在LIBZ 分析過程中, 高強度激光光斑(等離子體)在分析材料表面形成。 待離子體冷卻后不同元素的特征光譜被LIBZ 捕捉到。不同長度的特征光代表了不同的元素， 特定特征光的強度代表了特定元素的含量。
SciAps 很高興地向大家介紹Z 分析儀。Z 分析儀是一款采用 LIBZ 技術的手持式分析儀， 其分析元素周期中低原子序號元素的能力可以與便攜式光學火花發射光譜儀媲美， 同時又有手持式X射線分析儀一樣的便攜性。Z分析儀的主要特點：
a) 激光源安全等級一級,操作時無需佩帶
b) 高分辨率感光元件
c) 極低的檢測下限
總結:
Z分析儀是一款手持LIBS分析儀。Z 分析儀不但擁有手持式 X 射線分析儀分析過渡元素和重金屬元素的分析性能,而且擁有分析元素周期表中低原子序號元素和鋁合金的性能,且所有Z分析儀都不受X射線裝置的相關法律管制。
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