IV曲線測(cè)試（電流-電壓特性曲線測(cè)試）是一種用于評(píng)估電子元件（如二極管、晶體管、太陽(yáng)能電池等）電氣特性的基本方法。其原理是通過(guò)測(cè)量元件在不同電壓下的電流響應(yīng)，繪制出電流（I）與電壓（V）之間的關(guān)系曲線，從而分析元件的性能和工作狀態(tài)。

 
IV曲線測(cè)試的基本原理：
 
?施加電壓?：在測(cè)試過(guò)程中，通過(guò)外部電源或測(cè)試設(shè)備向被測(cè)元件施加一系列不同的電壓值（從負(fù)電壓到正電壓，或根據(jù)測(cè)試需求調(diào)整范圍）。
 
?測(cè)量電流?：在每一個(gè)電壓點(diǎn)下，測(cè)量通過(guò)元件的電流值。電流的大小取決于元件的電氣特性（如電阻、二極管的正向?qū)ㄌ匦缘龋?br/> 
?繪制曲線?：將測(cè)得的電壓和電流值繪制成曲線，橫軸為電壓（V），縱軸為電流（I）。這條曲線稱(chēng)為IV曲線。
 
?分析特性?：根據(jù)曲線的形狀和特征，可以分析元件的工作狀態(tài)、性能參數(shù)（如導(dǎo)通電壓、飽和電流、反向擊穿電壓等）以及是否存在缺陷。
 
常見(jiàn)元件的IV曲線特征：
 
?二極管?：正向電壓下，電流隨電壓增加而迅速上升；反向電壓下，電流很小，直到達(dá)到擊穿電壓。

三極管：設(shè)計(jì)電路中常常會(huì)關(guān)注的參數(shù)有電流放大系數(shù)β、極間反向電流ICBO、ICEO、集電極蕞大允許電流ICM、反向擊穿電壓VEBO、VCBO、VCEO以及三極管的輸入輸出特性曲線等參數(shù)。
 
?太陽(yáng)能電池?：在光照條件下，IV曲線會(huì)顯示出短路電流（Isc）和開(kāi)路電壓（Voc），并可以通過(guò)曲線計(jì)算蕞大功率點(diǎn)（MPP）。
 
?電阻?：IV曲線是一條直線，斜率表示電阻值。

 普賽斯源表部分測(cè)試曲線圖

測(cè)試設(shè)備：
 
IV曲線測(cè)試通常使用以下設(shè)備：
 
?源測(cè)量單元（SMU）?：又名數(shù)字源表，可以同時(shí)施加電壓和測(cè)量電流。
 
?萬(wàn)用表?：用于簡(jiǎn)單的電壓和電流測(cè)量。
 
?專(zhuān)用測(cè)試儀?：半導(dǎo)體特性曲線示蹤儀等

其中普賽斯數(shù)字源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身，摒棄了多臺(tái)儀器連接耗時(shí)、占用空間大、操作不方便等弊端。普賽斯儀表作為國(guó)內(nèi)蕞早生產(chǎn)數(shù)字源表的廠家，自主研發(fā)生產(chǎn)的數(shù)字源表性價(jià)比高、操作方便，廠家服務(wù)更及時(shí)，可廣泛用于分立半導(dǎo)體器件、能量與效率特性測(cè)試、傳感器特性測(cè)試、有機(jī)材料、納米材料等測(cè)量。支持四象限工作，可作為源或負(fù)載

iv檢測(cè)儀器數(shù)字源表高精度曲線掃描特點(diǎn)

●   5寸觸摸顯示屏全圖形化操作

●   范圍廣，高至300V低至1pA

●   蕞小脈沖寬度200μS

●   準(zhǔn)確度為0.1%

●   四象限工作（源和阱）

●   豐富的掃描模式

●   支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出報(bào)告

●   多種通信接口，RS-232/GPIB/LAN

為什么選擇P系列高精度臺(tái)式脈沖源表？

• 性能-著越的全量程測(cè)試/回讀0.1%精度和寬動(dòng)態(tài)范圍規(guī)格（高至300V低至1pA）可以快速且高效的執(zhí)行半導(dǎo)體電氣特性精確表征。

• 生產(chǎn)率-P系列脈沖源表可工作在四象限區(qū)域，全系列機(jī)型提供DC和pulse兩種模式；SCPI命令提供通用性和兼容性。用戶能高效的操作測(cè)量，跟上不斷發(fā)展的半導(dǎo)體技術(shù)。

• 專(zhuān)業(yè)性-作為帥先將數(shù)字源表SMU實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化的高新技術(shù)企業(yè)，研發(fā)和產(chǎn)品專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)一直傾聽(tīng)用戶需求，不斷為客戶的測(cè)量挑戰(zhàn)提供創(chuàng)新且有效的解決方案。

集成源和表的能力，J致簡(jiǎn)化IV量測(cè)任務(wù)

    使用傳統(tǒng)的儀器，如電壓/電流源、任意波形發(fā)生器(AWGs)、開(kāi)關(guān)和電壓/電流表進(jìn)行半導(dǎo)體電氣特性表征是復(fù)雜且成本昂貴的。需要多種儀器配合完成測(cè)試，對(duì)不同儀器進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析，既復(fù)雜又耗時(shí)，還需占用大量測(cè)試臺(tái)空間。

    普賽斯P系列脈沖源表將許多不同的源和測(cè)量能力集成到一個(gè)緊湊的儀器機(jī)箱內(nèi)，可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載、脈沖發(fā)生器和AWG來(lái)運(yùn)行。普賽斯P系列SMU多功能、一體化的能力允許它執(zhí)行從直流到低頻交流的各種測(cè)量,而無(wú)需改變連接或使用額外的設(shè)備。

寬動(dòng)態(tài)范圍，快速和準(zhǔn)確獲得測(cè)量結(jié)果

    普賽斯P系列脈沖源表的蕞大電壓為±300V，蕞大電流為±4A     DC，±30A       pulse，分辨率低至1pA。P系列脈沖源表可以存儲(chǔ)多達(dá)100000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，支持在量測(cè)同時(shí)批量讀取緩存區(qū)數(shù)據(jù)，減少總線通信時(shí)間。當(dāng)SMU集成到半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)中時(shí)，這些特性將幫助用戶極大的提高測(cè)試效率。

四象限工作，可以作為源或負(fù)載

    電源象限是指以電源輸出電壓為X軸、輸出電流為Y軸       形成的象限圖。D一、三象限即電壓電流同向,源表對(duì)其它設(shè)備供電,稱(chēng)為源模式；第二、四象限即電壓電流反向，其它設(shè)備對(duì)源表放電，源表被動(dòng)吸收流入的電流，且可為電流提供返回路徑，稱(chēng)為阱模式。

    內(nèi)置掃描和任意波形測(cè)量功能

   P系列高精度脈沖源表具有內(nèi)置掃描功能，支持線性和對(duì)數(shù)掃描、自定義掃描和序列掃描等。通過(guò)設(shè)定函數(shù)關(guān)系和保護(hù)參數(shù)后，系統(tǒng)自動(dòng)運(yùn)行，能夠有效執(zhí)行任意曲線的輸出，在表征響應(yīng)隨電壓或者電流變化的測(cè)試中，能夠大幅提高測(cè)試效率，是I-V、I-R和V-R特性表征的理想選擇。

    P系列高精度脈沖源表具有任意波形生成(AWG)和列表掃描功能。AWG和列表掃描功能使您能夠創(chuàng)建蕞多100,000階梯的波形以獲得蕞大的靈活性。

多路電壓電流同步脈沖測(cè)量，減小器件自熱效應(yīng)

    發(fā)熱管理在許多器件的測(cè)試過(guò)程中是至關(guān)重要的，特別是那些在半導(dǎo)體晶圓水平上的器件，如   VCSEL、激光二極管和 LED。脈沖    I-V測(cè)試將器件電流的發(fā)熱效應(yīng)降至蕞低。P系列高精度脈沖源表可以蕞小化晶圓的發(fā)熱效應(yīng)，更輕松的執(zhí)行真實(shí)器件的測(cè)試，確保用戶的精確測(cè)量。

輕松滿足常用的測(cè)量需求

    觸摸屏幕上的任意圖標(biāo)，就會(huì)出現(xiàn)圖像化設(shè)置屏幕。在測(cè)量前按照向?qū)е鹨辉O(shè)置，操作更直觀。

提供的應(yīng)用程序

- 序列掃描

- 數(shù)據(jù)記錄儀：持續(xù)輸出恒壓源測(cè)試模式；持續(xù)輸出恒流源測(cè)試模式

- APD管

- 晶體管：MOSFET 管測(cè)試；三極管測(cè)試

-- LIV：PIN 管掃描測(cè)試

-  波形發(fā)生器：設(shè)置正弦波、三角波、方波、鋸齒波四種波形；直流模式輸出和脈沖模式輸出；可以設(shè)置自定義序列

iv檢測(cè)儀器數(shù)字源表高精度曲線掃描認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢，武漢普賽斯一直專(zhuān)注于半導(dǎo)體的電性能測(cè)試儀表開(kāi)發(fā),基于核心算法和系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺(tái)優(yōu)勢(shì),帥先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表、大電流脈沖電源、集成插卡式源表、功率器件測(cè)試設(shè)備等產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用在半導(dǎo)體器件材料的分析測(cè)試領(lǐng)域。欲了解更多普賽斯儀表產(chǎn)品信息，歡迎隨時(shí)咨詢！