當(dāng)前位置:武漢普賽斯儀表有限公司>>半導(dǎo)體器件測試儀器儀表>>功率器件測試系統(tǒng)>> PMST2210功率半導(dǎo)體靜態(tài)特性測試系統(tǒng)國產(chǎn)品牌
功率半導(dǎo)體靜態(tài)特性測試系統(tǒng)國產(chǎn)品牌
大功率半導(dǎo)體器件參數(shù)測試系統(tǒng)
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
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集電極-發(fā)射極 最大電壓 | 3500V | 最大電流 | 6000A |
漏電流測試范圍 | 1nA~100mA |
功率半導(dǎo)體靜態(tài)特性測試系統(tǒng)國產(chǎn)品牌測試項目
二極管:反向擊穿電壓VR、反向漏電流IR、正向電壓VF、 正向電流IF、電容值Cd、I-V曲線、C-V曲線
三極管:V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBO、ICBO、VCE(sat)、VBE(sat)、IC、IB、Ceb、 增益hFE,輸入特性曲線、輸出特性曲線、C-V特性曲線
Si MOS/IGBT/SiC MOS/GaN HEMT:V(BR)DSS/V(BR)CES、IDSS/ICES、VCE(sat)、RDS(on)、VSD/VF、VGS(th)/、VGE(th)、IGSS/IGES柵極內(nèi)阻Rg、輸入電容Ciss/Cies、輸出電容、Coss/Coes、反向傳輸電容Crss/Cres、跨導(dǎo)gfs、輸出特性曲線、 轉(zhuǎn)移特性曲線、C-V特性曲線
光耦(四端口以下):IF、VF、V(BR)CEO、VCE(sat)、ICEO、IR、輸入電容CT、輸出電容CCE、 電流傳輸比CTR、隔離電容CIO
產(chǎn)品特點
1、高電壓、大電流
具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達3500V(蕞大可擴展至12kV)
0.1%精度測量
四線制測試
3、模塊化配置
可根據(jù)實際測試需要靈活配置多種測量單元
系統(tǒng)預(yù)留升級空間,后期可添加或升級測量單元
4、測試效率高
內(nèi)置專用開關(guān)矩陣,根據(jù)測試項目自動切換電路與測量單元
支持國標(biāo)全指標(biāo)的一鍵測試
5、軟件功能豐富
上位機自帶器件標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)測試項目模板,可直接調(diào)取使用
支持曲線繪制
自動保存測試數(shù)據(jù),并支持EXCEL格式導(dǎo)出
開放的標(biāo)準(zhǔn)SCPI指令集,可與第三方系統(tǒng)集成
6、擴展性好
支持常溫及低溫、高溫測試
可靈活定制各種夾具
可與探針臺,溫箱等第三方設(shè)備聯(lián)動使用
普賽斯功率半導(dǎo)體靜態(tài)特性測試系統(tǒng)國產(chǎn)品牌,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等)的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、μΩ級導(dǎo)通電阻精確測量、納安級漏電流測量能力等特點。支持高壓模式下功率器件結(jié)電容測試,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。 普賽斯PMST功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),配置有多種測量單元模塊,模塊化的設(shè)計測試方法靈活,能夠極大方便用戶添加或升級測量模塊,適應(yīng)測量功率器件不斷變化的需求。
目前,武漢普賽斯儀表有限公司的產(chǎn)品已經(jīng)覆蓋了10pA-6000A、300mV-12KV的電壓電流范圍,并在多個領(lǐng)域展現(xiàn)出絕對優(yōu)勢。特別是在聚焦SiC/IGBT/GaN第三代半導(dǎo)體的電源及測試需求方面,我司在8000V、1000A以上量程及測試性能均處于絕對優(yōu)勢地位。
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