科視達（中國）有限公司
科視達（中國）有限公司
SAM301型 主要技術參數：一 機械部分：1.X/Y兩軸均為超高速、線性馬達驅動系統,X/Y軸內置磁力機構
SAM 301 型 主要技術參數：
一 機械部分：
1. X/Y 兩軸均為超高速、線性馬達驅動系統, X / Y 軸內置磁力機構；
2. 配有防震系統與慣性平衡機構，隔絕在高速掃描過程中振動影響，確保圖像不會因快速掃描而失真；
3. Z 軸行程大于100mm
4. Z軸自動對焦，不僅可以自動對焦到樣品表面，而且同時還可對樣品內部任意界面自動對焦; 逐層自動對焦可設定步距，Z-軸探頭按步距從樣品底部開始向上逐層掃描；
5. 掃描范圍：最小0.20 mm × 0.20 mm ； > 320 mm × 320 mm; 可自定義掃描區域，可任意輸入或框選掃描面積（正方形，長方形，矩形）；同時還能自定義序列掃描，跳過沒有樣品的空白位置；可自動尋找被測樣品的中心位置和樣品邊緣尺寸，自動設定掃描范圍；
6. 掃描速率：1,500 mm/s
7. 重復精度：+/- 0.1μm
8. 標準工作水槽尺寸：670 *560 * 70mm 或670 * 560 * 150mm 或定制加長工作水槽，配置工字形樣品臺
二 電子部分:
1. DPR 500 超聲波接收和發射器頻率帶寬：500MHz
2. ADC卡采樣頻率：1.25G/秒, （2G, 5G 選配）
3. 前置放大器：L2 H2，（H3 選配）
支持換能器（探頭）范圍：5MHz- 400MHz
部分可選項：
1. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）
2．前后雙工位系統，減少機器停頓時間，顯著提高工作效率
3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級
4．在不改變掃描機構主體，升級為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統，成倍提高掃描效率
4. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）
5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置
使用要求；220V，50Hz ，去離子水
備注：
SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 機型,SAM 301 UltraTec 超高速機型（雙馬達配置，掃描速度達 2000mm/s）SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機型，根據具體配置予以細分，滿足不同用戶需求；
歡迎您，我們會根據您的產品檢測需要，為您推薦最合適的機型和配置.
設備如軟件、硬件升級， 相關參數會有所變更，請以生產廠家確認為準。
軟件部分: Winsam 8 超聲掃描成像軟件，部分功能介紹：
1. 主要掃描模式包括：A掃描（點掃描）、B掃描、C掃描、多層C掃描、在不同的Z高度進行連續的C掃描、多重門限掃描、透射掃描、托盤掃描、、順序掃描、高清晰掃描、表面跟蹤掃描、實體掃描
分頻掃描、覆蓋掃描等；透射掃描模式選件：Through Scan 透射掃描固定單元及接收探頭；
2. 表面穩定功能：可消除或減弱樣品表面刻字，激光打標等對樣品內部超聲波信號所帶來的影響;
3. 圖像輸出格式：tiff, bmp, jpeg, png 等; tiff格式能一鍵存儲保存所有的掃描參數，可在下一次掃描時調用；
4．定量測量功能：X -Y 長度測量、厚度與距離測量、缺陷百分比計算：可根據樣品的實際輪廓（圓形，矩形，不規則形）進行缺陷面積百分比統計分析，樣品掃描后可提供缺陷尺寸列表并輸出報告，點擊列表中任一行可顯示該缺陷在掃描圖像上的X/Y 區域，便于進一步分析和定位缺陷等；
5. 圖像著色功能：根據相位翻轉自動著色；根據灰度等級手動著色；根據渡越時間手動著色，根據厚度變化手動著色（已知材料的阻抗值）
6. 報告生成：掃描后生成掃描分析報告，報告中包含：最終掃描圖片、各種掃描參數設置、樣品的A掃描波形圖等；
7．軟件可顯示探頭在水槽中的X/Y/Z三維坐標和當前所設定的掃描范圍；
8．用戶可自主選擇XY軸移動方向、各種探頭回位方式、以何種方式調用之前掃描保存的圖片來獲得掃描參數等；
9. 射頻增益調節窗口：-22dB -50dB， 高級菜單設置
10. 圖像分辨率：≥32000 * 32000 像素
專業工業控制計算機系統基本配置：
基本配置：CPU 3.5 GHz, Intel 四核處理器，16GB 內存，1T硬盤，DVD-RW刻錄光驅，高速圖像卡，Windows 10操作系統，USB及網絡接口，1臺 27' LCD 液晶顯示器或 2臺 22寸液晶顯示器, 配置防靜電操作臺。
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網 設計制作，未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
