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PPX3040L便攜手持式X光檢測成像儀,搭配高分辨率的平板探測器,可進行高清成像,具有較小的盲區,底部盲區不超過6mm,支持多點觸控操作,平板探測器具有42A...
PPX3040S手持式X光射線機采用高靈敏非晶硅成像系統,探測器可探測到0.1mm的小顆粒,探測厚度不小于12mm,底部盲區不到7mm,探測面積達到1200平方...
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