UHAST加速老化試驗箱廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。UHAST加速老化試驗箱的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

體結構及安全裝置：

1、內膽圓形橫置式內槽結構設計方便使用者取置待測物品，可預防試驗中有滴水結露現象，可避免蒸汽過熱

    直接沖擊操作人員。

2、安全程序自動停機，自動泄壓，自動破真空，自動給水，可加載持續運行。

3、采用溫度與壓力安全檢知及門禁自動鎖定控制系統，圓型測試槽與安全門環扣結構設計，當內箱壓力越大

     時，反壓會迫使安全門與箱體更加緊密之結合，故內箱壓力必須小于正常壓力時，測試門才能被打開，因

     此而保證了操作人員的安全。

4、具備異常故障訊號警示功能

產品應用范圍：

適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、半導體、線路板，多層線路板、IC、PCB、LCD、Board、電池、電容、電阻、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性，氣密性等。