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Nanolink SZ902系列納米粒度分析儀是繼在SZ901系列納米粒度分析儀后推出的全新一款高性能動態(tài)光散射納米粒度儀產(chǎn)品，加持了真理光學(xué)研發(fā)的全自動聚焦技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了對納米樣品的多角度測量，無需稀釋即可對不同濃度納米樣品的粒度及Zeta電位快速測量，十分適合各種有機(jī)或無機(jī)納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等多種樣品的粒度及Zeta電位研究級分析測試。

Nanolink SZ902納米粒度分析儀的杰出性能和主要特點(diǎn)包括：

◆包含經(jīng)典90°、背向和前向動態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm–15μm*

    ◆激光多普勒電泳技術(shù)用于Zeta電位分析，可準(zhǔn)確預(yù)知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚的傾向性

    ◆加持自動恒溫技術(shù)的功率可達(dá)50mW,波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用

    ◆的余弦擬合相位分析法（CF-PALS）優(yōu)于目前的頻譜分析法（FFT）和傳統(tǒng)的位相分析法（PALS）

    ◆的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)

    ◆的信號光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)

    ◆集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器

    ◆常規(guī)溫度控制范圍可達(dá)-15°C~120°C,精度±0.1°C

    ◆新一代高速數(shù)字相關(guān)器，動態(tài)范圍大于10¹¹

    ◆冷凝控制–干燥氣體吹掃技術(shù)

測量原理	動態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）、電泳光散射（ELS）
粒徑測量角度	90°,173°（高濃度），12°（Zeta電位）
粒徑測量范圍	0.3nm -15um*
粒徑測量最小樣品量	3ul*
粒徑測量最小樣品濃度	0.1mg/ml
粒徑測量樣品濃度	40%/wv
檢測點(diǎn)位置	距入射點(diǎn)0~5mm可調(diào)
檢測點(diǎn)定位精度	0.01mm
Zeta電位技術(shù)	余弦擬合位相分析法（CF-PALS）
適用Zeta電位測量的粒徑	任意范圍，無明確限制
遷移率范圍	1nm - 120μm*
電導(dǎo)率	270mS/cm
電導(dǎo)率準(zhǔn)確度	±10%
電極	插入式平板電極、U型毛細(xì)管電極
分子量范圍	340Da - 2x10⁷Da
溫度控制范圍	-15°C - 120°C
溫度控制精度	±0.1°C
光源	集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的功率50mW, 波長638nm固體激光器
相關(guān)器	高速數(shù)字相關(guān)器，自適應(yīng)通道配置
檢測器	高靈敏度APD
樣品池	12mm比色皿、3μL毛細(xì)管超微量樣品池、40μL微量樣品池（多種可選）
系統(tǒng)重量	16kg
外形尺寸	365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)