在線測厚儀LS152
儀器使用須知
感謝您選擇使用LS152真空鍍膜在線測厚儀，為了您能更好的使用本產品，請您先認真閱讀本說明書。
本儀器通過測量材料(如塑料薄膜、玻璃等)的光學透過率或光密度來測量材料上涂層的厚度和涂層均勻性。所測結果不是直接顯示材料厚度，而是顯示為材料的光密度或透過率。
本儀器測量功能通過光學方式實現，非接觸測量，對膜層無損傷。
測控主機可以并排安裝多組探頭，每組探頭zui小間距可達約70mm。
儀器探頭采用可插拔式設計，航空連接器連接，用戶可自行安裝和拆卸更換，便于維修及維護。
儀器工作溫度為-10℃ - 60℃，相對濕度應小于85%，且不產生凝露
儀器存儲溫度為-20℃ - 70℃，應避開熱源、腐蝕物，存儲在干燥處
本儀器使用應避開強電磁干擾
儀器保修期為一年，凡保修期內用戶正常使用而出現的故障，公司負責免費維修。凡不當使用或隨意拆卸儀器導致故障，請用戶自行負責
一、儀器簡介及特點
鍍膜厚度的縱向、橫向均勻度是鍍膜制品重要質量和技術指標。鍍膜產品的光密度(光密度 = LOG(1/透過率))和鍍層厚度成正比例關系，鍍層厚度越厚，光密度值越大，透過率值越低。所以可以通過測量鍍膜產品的光密度值來達到監控鍍膜層的厚度的目的。
真空鍍膜在線測厚儀，適用于各類鍍膜生產線，通過選擇監控產品的可見光透過率，紅外線透過率和光密度值（OD），來達到在線檢測和分析產品鍍層厚度，鍍層厚度的均勻性等性能是否在工藝要求之內。以便操作人員及時了解產品質量，如有問題，及早發現及調整工藝，提高產品品質，降低產品的廢品率。
LS152廣泛應用于卷繞真空鍍膜，玻璃鍍膜，玻璃生產線，涂布生產線等。
儀器特點：
1、模塊化設計，各模塊之間采用航空連接器連接，結構簡單，現場安裝維護方便。儀器具有溫度補償功能，數值穩定，允許在高溫環境下使用。
2、防塵設計，對于鍍膜過程中的粉塵（如鍍鋁過程）會影響測量光學系統，該系統采用防塵設計，粉塵不會影響光學系統內部。如有粉塵，只需要定期擦拭清潔光源探頭和接收探頭的鏡頭玻璃即可，方便維護。
3、真空室的電子設計，真空環境中，和大氣環境下有眾多的區別，經過多次真空試驗和現場應用，成功解決真空中電子器件的穩定性問題。
4、此儀器提供雙路的RS485通信接口，標準的MODBUS通信協議，方便和PLC，單片機，人機界面，組態王，電腦等通信。鍍膜機可以直接讀取此設備的光密度數據，實現控制自動化(閉環控制)。
5、人機界面，所有測試點數據的實時監控，包含實時顯示、柱狀圖、上下閾值設定、越限報警、RS485②通信參數設定等。透過率與光密度的顯示可自由切換。
- 儀器具有自動校準功能和人工校準功能，用戶可根據需要自由設置。
儀器結構
設備分為三部分：測控主機、人機界面控制箱、電腦實時監控軟件（選配）。
- 測控主機主要包含光源探頭、接收探頭、控制器、鋁型材機架。
- 人機界面控制箱主要包含人機界面、電源、不銹鋼箱體。
- 電腦實時監控軟件，所有測試點數據的實時監控，包含實時顯示、柱狀圖、上下閾值設定、實時曲線，越限報警等。透過率與光密度的顯示可自由切換。
- 技術參數
技術參數 | LS152測厚儀 |
測量波長 | 850nm紅外線,530nm綠光可選 |
測量光斑 | 5mm圓形 |
透過率測量精度 | 優于±1% |
透過率分辨率 | 0.005% |
光密度測量范圍 | 0.00 OD --- 5.00 OD |
光密度分辨率 | 0.01 for 0.00 - 3.00 OD 0.05 for 3.00 - 5.00 OD |
zui大測量點數 | 45點 |
相鄰探頭之間距離 | zui小70mm |
光源頭和接收頭之間距離 | 20mm |
工作溫度 | -10℃ ～ 60℃ |
存儲溫度 | -20℃ ～ 70℃ |
相對濕度 | 小于85％，不結露 |
數據刷新周期 | 300ms |
儀器尺寸 | 長(根據客戶要求定制)×寬(80mm)×高(180mm) |
需真空法蘭電極芯數 | 6根(不配電腦監控)/9根(配電腦監控) |
電源 | 220V AC/50Hz |
通信 | 雙路RS485 |
- 服務
- 儀器保修一年。若儀器出現故障，請用戶將整套儀器或損壞的探頭寄至本公司維修
- 為用戶*提供零配件，提供終身維修服務
- 為用戶免費提供儀器檢驗服務
- *免費提供
生產制造商：深圳市林上科技有限公司
公司：http://www.lstek。。ｃｎ
產品：http://www.lstek。。ｃｎ/Product/LS152.html
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