蔡司 METROTOM斷層掃描測量機——測量技術(shù)的新革命

蔡司 Metrotomo融合了計量學(xué)和斷層X射線攝影法,開創(chuàng)了不可預(yù)期的可能性。在此之前只能檢測或根本不能進行質(zhì)量保證的場合,現(xiàn)在可以進行高精度和無損測量。

斷層掃描分析如同在工件內(nèi)部測量:所有采集的數(shù)據(jù)可用于質(zhì)量保證的范圍和進行評估。無損檢測技術(shù),例如：裝配檢查、損傷和氣孔分析、材料檢驗或損壞檢查,如同測量評估、逆向工程應(yīng)用或幾何比較一樣。

在此之前或許不能檢測，或只能通過耗費時間和成本的接口進行檢測的場合，現(xiàn)在斷層掃描分析可以快速明確地檢測誤差。 

重要特征

深思熟慮的設(shè)計

● 三維計算機斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測器

● 用于裝夾工件的轉(zhuǎn)臺和蔡司的運動單元

安全技術(shù)

● 全防護測量間

● 滿足了根據(jù)DN54113標(biāo)準(zhǔn)的用于結(jié)構(gòu)類型許可全封閉儀器的防護射線條例

● 根據(jù)人機工程學(xué)優(yōu)化的設(shè)計(專用上料位置)

機器技術(shù)

來自卡爾蔡司的精密運動系統(tǒng)；

● 自加工的精密機械組件             ● 導(dǎo)軌誤差補償(CAA計算機輔助誤差修正技術(shù))

氣浮軸承轉(zhuǎn)臺：

● 蔡司原裝轉(zhuǎn)臺,配有直接驅(qū)動      ● 自產(chǎn)氣浮軸承

● 載荷(中心):500N                ● 軸向誤差fa=0.1μm,徑向誤差fa=0.2μm

使用斷層成像技術(shù)優(yōu)化產(chǎn)品內(nèi)部工藝

● 裝配檢查                         ● 模具修復(fù)——幾何量對比              ● 材料分析                               

● 幾何量測量                     ● 無損瑕疵檢測                                ● 逆向工程

● 孔隙率分析                     ● 損害分析

針對設(shè)備的驗收測試階段,卡爾蔡司使用基于VDI/VDE 2630開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)器具,同時可提供測量不確定性的相應(yīng)對比測試及測量機的測量系統(tǒng)分析。