Avio® 200 系統能處理復雜的、未經稀釋的高基體樣品，為ICP帶來更為廣泛的應用范圍和強大的性能。而且，強大的性能并沒有影響其易用性。的硬件特性與直觀易用的軟件相結合，使多元素分析變得與單元素分析一樣簡單。

作為一款在實現小型化的同時沒有損失性能的ICP，Avio 200 可通過以下性能，提供高效的操作、可靠的數據和低的運行成本：

? 現有 ICP 中超低的氬氣消耗

? 快速的 ICP 冷啟動速度（光譜儀從關機狀態啟動，在短短幾分鐘內即可準備就緒）

? 對所有適用的元素都具有出色的靈敏度與分辨率

? 雙向觀測技術帶來寬線性范圍性能可靠、功能強大、經濟實惠，Avio 200 具備您所尋求的 ICP所具有的一切。

Avio 200 ICP 專為滿足和超越客戶具有挑戰性的需求而設計，憑借一系列專有的功能，使您獲得更高的樣品通量，所取得的成本效益遠超以往。它有以下優勢：

超低運行成本

Flat Plate™ (平板) 等離子體技術，Avio 僅需消耗其他系統一半的氬氣量，即可生成穩定、耐基體的等離子體，同時賦予您：

? 所有投資，物有所值

? 無需對傳統的射頻發生線圈進行冷卻和維護，提供出色的運行效率和生產力

另外，為了提高效率，珀金埃爾默儀器具有動態波長穩定（DWS）功能，在開機短短幾分鐘之后您就可以進行樣品分析，并在分析工作結束后關閉儀器電源以節約電能。

       Avio 200 的操作需要 9升/分鐘的總氬氣流量，而其他系統則需要約15-21升/分鐘。

強大的雙向觀測功能

傳統的同步垂直雙向觀測系統在實現軸向、徑向雙向觀測時性能往往會受到影響。Avio 200 系統的雙向觀測功能，可測量波長范圍寬，不會造成光通量和靈敏度的損失。即使是吸收波長高于 500 納米或低于 200 納米的元素檢出限也可達ppb級別。

該 Avio 系統的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態范圍，確保實現：

? 更簡便的樣品制備過程，樣品溶液無需稀釋

? 高、低濃度可以在同一次運行中進行測量

? 更好的質量控制和更準確的結果

? 減少重復運行

                 Avio 的垂直雙向觀測光學系統可確保寬的波長范圍和合適的檢測限。

集成等離子體觀測相機

可簡化您的開發方法，同時借助 Avio 200 系統的PlasmaCam™ 技術，盡享遠程監控等離子體的便利。彩色相機可幫助您：

? 實時觀測等離子體

? 執行遠程診斷

? 查看進樣部件

借助 PlasmaCam，可輕松觀測等離子體及周圍的成分，以便開發方法和排除故障。

革新性 PlasmaShear 系統，可實現無氬干擾消除

為了消除軸向觀測的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更經濟。

其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統的 PlasmaShear™ 技術只需空氣即可，且無需采樣錐等需要特殊維護的部件。這是一個集成的、自動化的、能提供軸向分析的干擾消除系統。

CCD 檢測器，可實現滿足需求的準確度和精密度

借助全波長功能，Avio 200 系統強大的電荷耦合器件（CCD）檢測器能不斷提供正確的答案。Avio 系統的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍，實時扣背景，實現出色的檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執行背景校正測量，進一步提高準確度和靈敏度。

帶有快速更換底座的垂直等離子體炬管，可實現滿足需求的基體耐受性

即使 ICP 正在運行，Avio 200 系統的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調節，可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。炬管底座的設計與眾不同，具有以下特點：

? 一個可拆卸的、獨立于炬管的中心管，旨在減少維護和破損的可能性

? 自動自對準，即使在拆卸后也能提供一致的采樣深度設置

? 兼容各種霧化器和霧室，可提高靈活性

相比傳統的螺旋線圈系統, Avio 的平板等離子技術能提供更緊湊、更強大、更穩定的等離子體。

Avio 的垂直炬管設計能提供更大的樣品靈活性并簡化維護。