提高系統測量頻寬的同時,又可免遭靜電破壞成為現實！

強的抗靜電破壞能力，適合車間產線和實驗室使用。

系統頻寬可達4.5GHZ-20GHZ,可精確測量板內阻抗。自動產生阻抗測量報告，包括阻抗平均值、大值、小值、公差以及測試圖形等。

PCB材料測試，介電常數DK和介電損耗因數DF。天線測量，S參數、駐波比和反射系數。搭配GGB探頭可實現Intel的單端對差分插入損耗SET2DIL測量眼圖測量高達16.0 Gb/S

依照客戶需求可以選擇半自動或自動測試機臺，*實現車間高效率測量

信號完整性設計和驗證的三大突破:

1.簡單而直觀的操作界面

2.*的抗靜電破壞能力

3.多功能綜合測試機

系統頻寬高達20GHz,上升時間達到22.3ps（10%到90%）, 依據IPC650 2.5.5.7Z中關于上升時間、分辨率和阻抗線的關系，可以精確測量較短線長的阻抗。

內置ESD保護電路，可以防御3KV的ESD和±30V的EOS, 保護儀器的免受靜電打壞，大大降低維護成本。實時動態的阻抗測量，無需進行多次平均而抑制噪聲即時顯示阻抗測量結果，搭配可調間距測試探頭，更便于測試小間距的PCB 和FPC 板。

更加人性化的智能中文阻抗機測量軟件簡易操作界面，可實時直接輸出阻抗測試報告(包括 阻抗機序列號、阻抗大值、小值、平均值、 測試日期等)，還可以輸出測試曲線畫面以及每 個阻抗點的阻抗值。腳踏開關控制，能夠快速進行測量，提高測量速率。

1.通過分析仿真的眼圖，可以深入了解高速互連器件的性能。

2.眼圖數據速率高達16.0 Gb/s.可得到精度非常精確的

3.眼圖，和用碼型發生器的測量結果*一致。

4使用虛擬碼型發生器，可產生符合行業標準的(PRBS, K28.5)或用戶定制的碼型。

5.預定義眼圖模板，可對各種高速串行器件的規范標準進行測量。

6.對測量結果進行綜合處理即可得到眼圖，無需購買儀表產生數字比特序列。

7.通過插入抖動信號對真實信號進行仿真。

搭配半自動或全自動測試系統及其PCB板對應的夾具，可以批量性、高率以效的測試阻抗，可以自動產生測試告，自動打印問題阻抗板信息，大大的節約時間和人力成本。

ENA-TDR SET2DIL滿足如Intel： SET2DIL （Singleended TDR to Differential Insertion Loss）傳輸線損耗等測試要求。配套使用GGB公司Picoprobe型40A-GSSG-450-TLD探頭（符合IPC規范）和我司開發的中文SET2DIL測試軟件，依據IPC-TM-650方法2.5.5.12A）即可輕松準確測量SET2DIL。

高性能ENA-T DR搭配材料測試軟件及QWED諧振腔冶具，針對Df及Dk測試提供*的動態范圍和測試精度，且測試結果可以各種格式的圖表顯示，包括:er', er", tan delta, ur1, ur", tan um.ａnd Cole-Cole.

系統規格：

★測量范圍:0-150ohm（單端）0-300ohm（差動）

★測量精度:± 0.25% @ 50 ohm

★測試長度:6.7mm- 10m

★水平軸顯示分辨率:1 ps或0.2mm （0.008"）

★垂直軸顯示分辨率:0.01 ohm

★上升時間范圍:22.3ps - 300ps可調整

★眼圖測試頻率:高達16.0Gb/s

★測量模式:單機可提供單端和差分兩種測量模式

★ LOSS測試：E5071C+SET2D1L軟件和測量治具，可做LOSS測試

★測試速度:差分測試時間僅需約0.7秒（使用內建阻抗測量軟件）