產品關鍵詞：電致發光測試儀、電致發光量子效率測量系統、外量子效率測量系統、光譜功率分布（λ）測量系統、電功率密度測量系統、發光特性測試系統、電致發光量子效率測試系統、發光量子產率測量系統、光電特性測試、量子產率測量儀、積分球光譜測試儀、發光特性測量儀、IVLλ、有機發光二極管綜合性能測試系統、量子效率測試儀、量子效率測試系統

Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system

產品簡介

電致發光量子效率測量儀HiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發光樣品的發光特性進行精確測量。HiYield 系統能夠以檢測精度對電致發光器件進行縱深測量，得到全面的測量的電致發光效率參數（量子效率EQE等）以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數；同時該系統集成了穩定性測試模塊，可以對器件的老化過程進行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進行測試），典型的包括電致發光效率/量子效率EQE、壽命測試、CIE、CRI、CCT、光譜響應、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強度、峰值波長、FHWM等，廣泛應用于各種類型的電致發光器件測量。

產品特點

□ 能夠以檢測精度對電致發光器件進行縱深測量，得到全面的法測量的電致發光效率參數（外量子效率等）以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數；

□ 集成了穩定性測試模塊，可以對器件的老化過程進行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進行測試）；

□ 由軟件控制測試過程，操作便捷，圖表和數據實時顯示；

□ 可快速、可靠對樣品的測試過程進行追蹤；

□ 具有實時測量、預測量、定制測量、掃描測量、時間依賴測量等豐富的測量模式。

產品功能

□ 效率參數：發光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；

□ 電學參數：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等；

□ 輻射度學：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等；

□ 色度學：CIE 色度坐標、相關色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數（CRI）、RGB 顏色值等；

□ 穩定性測試。

■ 包含測量模式

√ 電壓掃描（含分段掃描、循環掃描等）；

√ 電流掃描（含分段掃描、循環掃描等）；

√ 恒壓單點測量；

√ 恒流單點測量；

√ 穩定性測量：不同老化時間下測量。

產品應用

□ 量子點發光二極管（QLED）

□ 有機發光二極管（OLED）

□ 發光二極管（LED）

□ 鈣鈦礦發光二極管（PeLED）

□ 其它各種類型的電致發光器件等

規格型號

測試樣例