產品關鍵詞：多通道電致器件穩定性測試、多通道電致器件壽命測試、多通道電致器件老化、器件壽命測試、電致發光器件老化系統、OLED壽命測試系統、多通道OLED器件壽命測試系統、多通道發光器件穩定性測量儀、多通道老化測試系統、多通道OLED穩定性測試系統、有機發光二極管(OLED)壽命測量系統
Product Keywords: Multi-channel electroinduced device stability test, multi-channel electroinduced device life Test, multi-channel electroinduced device aging, device life test, electroluminescent device aging system, OLED lifetime test system, multi-channel OLED device life Test system, multi-channel light-emitting device stability measuring instrument, multi-channel aging test system, multi-channel OLED stability test system Organic light-emitting diode (OLED) life measurement system
產品簡介
多通道電致發光特性測量系統EL-Lab是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平臺中的重要成員，與東譜科技的電致發光特性測量系統 HiYield 共同為行業提供了完善的電致發光的測量方案。該系統由一系列相應的分布測量組件組成，包括光電測量模塊、亮度校準模塊、光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用于不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量，且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能，從而可以適應豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。
產品特點
□ 多通道批量測量；
□ 可放進手套箱內測試；
□ 支持長時間的多個器件的老化測試；
□ 支持寬溫度范圍的變溫測試；
□ 全面的電致發光測量參數。
關于測試通道：可靈活定制不同數量的測試通道和功能，如：
■ 總測試通道：6 個
■ IVL 測試通道：5 個
■ 光譜測試通道：1 個
■ 老化（穩定性）測試通道：5 個
■ 變溫測試通道：選配
產品功能
□ 發光效率參數：外量子效率、電流效率、功率效率等；
□ 電學參數：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率密度等；
□ 輻射度學參數： 光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長等 ；
□ 光度學參數：亮度、光通量等；
□ 色度學參數： CIE 色度坐標、相關色溫（CCT）、MK-1、顯色指數等 ；
□ 器件老化參數：不同老化時間下的上述參數；
□ 變溫測量等。
規格參數
| 光電測量模塊 | 光譜測試模塊 | ||
| 波長范圍 | 350-1100 nm | 波長范圍 | 200-1100 nm |
| 峰值波長 | 970 nm | 積分時間 | 3.8 ms – 10 s |
| 靈敏度 | 0.725 A/W | 動態范圍 | 3.4 x 10 ^6 (system); 1300:1 for a single acquisition |
| 有源面積 | 100 mm^2 | 雜散光 | <0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm |
| 上升/下降時間 | 65 ns(632 nm, RL=50?, 5V) | 光學分辨率 | ~1.5 nm(FWHM) |
| 噪聲等效功率 | 2.07x10-13 W/√Hz（970 nm, 5 V） | 源表 | |
| 暗電流 | 600 nA (Max. 5V) | 參數 | 電壓范圍-20 V~20 V；電流范圍-120 mA~120 mA； 分辨率 100 pA/0.1 mV |
| 結電容 | 375 pF (Typ. 5V) | ||
產品應用
□ 量子點發光二極管（QLED）；
□ 有機發光二極管（OLED）；
□ 發光二極管（LED）；
□ 鈣鈦礦發光二極管（PeLED）；
□ 其它各種類型的電致發光器件。
