晶體管直流參數測試系統ST-DC2000
基礎信息
n測試分析：功率器件研發設計階段的初始測試
n失效分析：失效器件測試，失效機理，設計方案改善
n選型配對：器件焊接PCB之前測試，按器件一致性分類配對
n來料檢驗：質量部對入廠器件進行抽檢/全檢，把控良品率
n量產測試：連接機械手、掃碼槍、分選機等進行量產測試
晶體管直流參數測試系統ST-DC2000
產品特點
三代半：優秀的性能應對第三代半導體及傳統器件，Si,sic,GaN器件
測試品類：覆蓋25類常見的電子元器件及IC類，且支持定制擴展
功能豐富：輕松表征元器件“靜態特性”“IV曲線”“Cxss”“CV”
分析篩選：功能全面，配置豐富，勝任實驗室場景中各類電參數表征
量產測試：1h高達7K~12K的測試效率，可連接“分選機”“編帶 機”Prober接口、16Bin。
一鍵加熱：一鍵脈沖自動加熱至+130°C，耗時<1s;
高壓源：1400V(選配2KV)
高流源：40A(選配100A,200A,500A)
驅動電壓：20V/10uA~100mA(選配+40V/10uA~100mA)
漏電測量：1nA漏電持續穩定測量，表現出優秀的一致性和穩定性，更有1.5pA微電流測量選件可供選擇。
高精度：16位ADC/DAC，0.1%精度，1M/S采樣速率.
程控軟件：基于LabVIEW平臺開發的填充式菜單軟件界面:
夾具工裝：適配各類封裝形式的器件，自動識別器件極性NPN/PNP.
校準：系統自帶校準軟件，也可通過RS232接口連接數字表進行校驗
晶體管直流參數測試系統ST-DC2000
測試品類
01.Diode/二極管（穩壓、瞬態、三端肖特基、TVS、整流橋、三相整流橋）
02.BJT/三極管
03.Mosfet&JFET/場效應管
04.SCR/可控硅（單向/雙向）
05.IGBT/絕緣柵雙極大功率晶體管
06.OC/光耦
07.Relay/繼電器
08.Darlingtontube/達林頓陣列
09.Currentsensor/電流傳感器
10.基準IC(TL431)
11.電壓復位IC
12.穩壓器（三端/四端）
13.三端開關功率驅動器
14.七端半橋驅動器
15.高邊功率開關
16.電壓保護器（單組/雙組）
17.開關穩壓集成器
18.壓敏電阻
19.電壓監控器
晶體管直流參數測試系統ST-DC2000
測試參數
漏電參數：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
擊穿參數：BVCEOBVCES(300μSPulseabove10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO
導通參數：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)Notch=IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
關斷參數：VGSOFF
觸發參數：IGT、VGT
保持參數：IH、IH+、IH-
鎖定參數：IL、IL+、IL-
增益參數：hFE、CTR、gFS
間接參數：IL
混合參數：RDSON、gFS、Input@Output/Regulation
