Langer干擾發射探頭套組P1601/P1702介紹：
P1601/P1702的測量確保了測量的高重復性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 軟件進行測量。利用該軟件保存了所有被測點的測量結果。它允許系統地、快速地比較和分析測量數據。
Langer干擾發射探頭套組（IC測試系統）
品牌：Langer EMV-Technik
型號：P1601/P1702
基于IEC61967-4標準的傳導發射測量，射頻場發射至1GHz
Langer干擾發射探頭套組P1601/P1702介紹：
P1601/P1702的測量確保了測量的高重復性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 軟件進行測量。利用該軟件保存了所有被測點的測量結果。它允許系統地、快速地比較和分析測量數據。
Langer干擾發射探頭套組P1601/P1702配置:
1x P1601
1x P1702, 高頻電場探頭
1x CS-ESA set, ESA芯片掃描軟件
1x D70 h03
1x D70 h10
1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測量電纜
1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 測量電纜
1x N-SMA
1x P1600 / P1700 case, System case
1x P1600 / P1700 m
簡短的介紹：
P1601：射頻磁場探頭具有50Ω 的射頻測量輸出。為了定位不同方向的磁場電流，射頻磁場探頭在集成電路上方旋轉360 ° 。在距離環(3或10)毫米的幫助下，射頻磁場探針被定位在 IC 上方的一定距離內。
P1702型高頻電場探頭用于測量從一個集成電路發出的電場。這些電場會耦合到探頭的電極上。由此產生的延遲電流會造成相連的頻譜分析儀的輸入端電壓下降。相連的頻譜分析儀會測量這些壓降。
ESA芯片掃描軟件用于遙控頻譜分析儀，存儲并記錄測量曲線。這些曲線可以任意的相互或者與校正曲線、與頻率相關的曲線和曲線常數換算。
