Langer干擾發射探頭套組（IC測試系統）

品牌：Langer EMV-Technik   

型號：P603-1/P750

基于IEC61967-4標準的傳導發射測量

Langer干擾發射探頭套組（IC測試系統）P603-1/P750介紹：

該探頭套組用于測量IC引腳的傳導發射（采用1歐姆/150歐姆直接耦合進行測量）。它基于IEC61967-4標準，分別有一個用于測試電流和電壓的探頭。該探頭能夠接觸到測試IC的每個引腳。

該探頭套組能夠確保較高的測量重復精度和測量的可比較性。

使用朗格爾電磁兼容技術公司的ICE1集成電路IC測試環境，可以對待測集成電路進行測試。芯片掃描ChipScan-ESA 軟件系統可以控制測量過程，并對所有引腳的測量數據進行存儲以及快速系統地分析比較。

Langer干擾發射探頭套組（IC測試系統）P603-1/P750配置:

1x P603-1, 1Ω高頻電流表 SMA

1x P750, 150Ω高頻電壓表

1x CS-ESA, ESA芯片掃描軟件

1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 測量電纜

1x NT FRI EU

1x P603 / P750 case, System case

1x P603-1 / P750 m, SMA

簡短的介紹：

P603-1 1Ω高頻電流表 SMA：探頭屬于1Ω探頭用于直接測量集成電路引腳上的高頻（RF）電流，主要用于接地引腳（Vss）和信號引腳的測量。1Ω 高頻電流計擁有針腳觸點，可以接觸到并對集成電路的每個引腳進行測量。

P750 150Ω高頻電壓表：P750 高頻電壓表帶有150Ω的耦合電路，它根據IEC 61967-4測量集成電路引腳的高頻電壓。P750探頭具備高阻抗的電容耦合輸入，因此能夠測量受測物上不同引腳的射頻電壓。

CS-ESA：ESA芯片掃描軟件用于遙控頻譜分析儀，存儲并記錄測量曲線。這些曲線可以任意的相互或者與校正曲線、與頻率相關的曲線和曲線常數換算。