廣州深華公司提供的沃特世Vion IMS QTof 離子淌度質譜質量過硬，物美價廉。
型號：Vion IMS QTof
產品描述：
高分辨率、準確的質譜數據是否一定會時間得出正確結果？使用離子淌度選擇性可以無需再運行額外的確認實驗。Vion IMS QTof具有新型幾何構造，包含XS Ion Optics和QuanTof2檢測系統，它的靈敏度和動態范圍可使離子淌度定量功能用于日常分析，從而實現：
●由于離子淌度對每份譜圖進行簡化，從而數據解析更加輕松
●分析物的鑒定和定量結果更加可靠
●方法開發更快，樣品通量更高
●與使用HDMSE的常規MS/MS相比，選擇性更佳
清晰度佳 - 數據解析更輕松
有了Vion IMS QTof，您可以使用離子淌度的選擇性快速優化譜圖，并減少色譜分離時產生的共流出物和背景干擾，讓您的化合物鑒定工作更可靠。
分析物的鑒定和定量結果更加可靠
能夠收集和處理每個離子的CCS（碰撞截面積）數據，這使您對數據擁有的信心。Vion IMS Qtof基于UNIFI科學信息系統，可提供面的分析工作流程，使您能夠在同一個軟件平臺上定位、鑒定和審核結果，從而更快更明智地做出決策。CCS提供不受色譜保留時間限制的數據點，可使您充滿信心地鑒定分析物，并降低假陽性和假陰性的風險。即使是在樣品分析的初期階段，您沒有任何關于保留時間的信息，也可以使用精確的理論質量數和CCS數據值來鑒定未知的和意料之外的化合物。
方法開發更快，樣品通量更高
Vion IMS Qtof功能強大，集50,000質量數分辨率、高靈敏度、低于1 ppm的質量準確度和加強的定量性能于一身。數據采集方法使用離子淌度作為標準，操作起來簡單直接。行業的UNIFI軟件通過高效的數據采集和處理程序快速存取結果，顯著緩解了數據處理的瓶頸。UNIFI還可以讓您快速輕松地創建和共享綜合報告。
在一次實驗中即可獲得所需的所有數據
MSE在記錄數據時不會對數據進行區別和預篩選。因此，您的樣品被納入一個分析中。如果沒有離子淌度分離的選擇性，要確認子離子和母離子之間的關系就需要進行專門的MS/MS實驗。
有了Vion IMS QTof，現在就能夠在臺式QTof上實現HDMSE無限的碎片離子采集模式。這種非數據依賴型的采集模式使用離子淌度選擇性對母離子和碎片離子進行時間關聯，實現所有已檢測到化合物的MS/MS特異性。與DDA方法相比，該采集模式所需的設置時間更短，并且由于所有數據均可在一次分析中完成采集，因此無需重復采集。在一次分析中采集所有數據，再結合離子淌度的額外特異性，使您可以充滿信心地做出更快更好的決策。
專業的深華公司提供專業的產品、專業的售前、售中、售后服務，將使您的工作能夠收到事半功倍的效果。
