入門級X射線熒光分析
FISCHERSCOPE®X射線XUL®系列正是每個電鍍車間的基礎設備。這些簡單易用且價格適中的能量色散X射線熒光分析儀非常適合監控鍍液成分，但在質量控制方面也是*的幫手：堅固耐用，非常適合測量批量生產的零件（如螺母和螺栓）上的電鍍層 。
XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中；或者，對于較小的物品（例如插頭），儀器可以配備手動樣品臺。盡管測量設備緊湊，但它們為您的試樣提供了足夠的空間-高度可達17厘米。
如果您有多種不同的測量任務，FISCHERSCOPE X射線XULM擁有可互切換的過濾器和準直儀，因此您可以為所有應用創造合適的測量條件。 此外，XULM具有內置的微聚焦管，即使在測量點微小和鍍層很薄的情況下也能提供精確的結果。
特點
- 根據DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度
- XULM的最小測量點約0.1 mm；XUL最小測量點約0.5 mm
- 鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源
- 采用經實踐驗證的短測量時間的比例接收器
- 準直器：固定或4個自動切換
- 初級過濾器：固定或3個自動切換
- 固定樣品臺或手動XY載物臺
- 用于光學觀察測量點的攝像頭
- 經認證的全面防護設計；
- 應用 電鍍層，
- 例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護
- 電鍍液中金屬含量的分析
- 裝飾性涂層
- Cr/Ni/Cu/ABS >電子行業連接器和觸點上的鍍層
- 儀器探測器
- 儀器最重要的一個的組件是探測器，它是“看到”熒光輻射的部分。
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久經考驗的比例計數管（PC）具有較大的感應面積，因此可實現較高的計數率。它非常適合于帶有較小測量點上較厚鍍層的測量。但是，由于它提供的能量分辨率較低且靈敏度有限，尤其是對于輕元素，因此僅部分適合于要求高的測量任務。
硅PIN二極管是一種中檔的探測器。它具有比比例接收器更好的分辨率，但測量面積很小。它既可以用于材料分析，也可以用于鍍層厚度測量。但是對于較小的測量點，需要相對較長的測量時間。
高質量的X射線熒光設備采用硅漂移探測器（SDD）。這種類型的檢測器具有*的能量分辨率，這意味著它甚至可以檢測樣品中濃度非常低的元素的輻射。此外，此類設備可以確定納米級別的鍍層厚度，并可以輕易地分析復雜的多鍍層結構。
