臺式鍍層厚度測試儀專為電鍍及需要表面處理的行業設計的一款高精度鍍層厚度測試的儀器，儀器采用X射線熒光分析法，可以便捷、快速、無損的分析出電鍍鍍層的厚度和電鍍液的成分。儀器連接電腦使用，操作簡單直觀，不僅方便實驗室使用，也方便放在電鍍產線上對產品的質量進行控制。

                                           臺式鍍層厚度測試儀

FISCHERSCOPE®X射線XUL®系列正是每個電鍍車間的基礎設備。這些簡單易用且價格適中的能量色散X射線熒光分析儀非常適合監控鍍液成分，但在質量控制方面也是*的幫手：堅固耐用，非常適合測量批量生產的零件（如螺母和螺栓）上的電鍍層 。

XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中；或者，對于較小的物品（例如插頭），儀器可以配備手動樣品臺。盡管測量設備緊湊，但它們為您的試樣提供了足夠的空間-高度可達17厘米。

如果您有多種不同的測量任務，FISCHERSCOPE X射線XULM擁有可互切換的過濾器和準直儀，因此您可以為所有應用創造合適的測量條件。 此外，XULM具有內置的微聚焦管，即使在測量點微小和鍍層很薄的情況下也能提供精確的結果。

技術指標：

多鍍層分析，1～5層；

測試精度：0.001 μm；

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；

測量時間：10~30秒；

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；

6個準直器及多個濾光片自動切換；

 XYZ三維移動平臺，MAX荷載為5公斤；

 高清CCD攝像頭（200萬像素），準確監控位置；

多變量非線性去卷積曲線擬合；

高性能FP/MLSQ分析；

儀器尺寸：618×525×490mm；

樣品臺尺寸：250×220mm；

樣品臺移動范圍：前后左右各80mm、高度90mm。

功能特點： 

◆配備了半導體探測器，由于有更好的信噪比，能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量 

◆使用微聚焦管可以測量較小的測量點，但因為其信號量較低，不適合測量十分細小的結構   

◆底部C型開槽的大容量測量艙 

◆有彈出功能的快速、可編程XY平臺  典型應用領域： 

◆鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分） 

◆來料檢驗，生產監控 

◆研究和開發 

◆電子工業 

◆接插件和觸點 

◆黃金、珠寶和鐘表工業 

◆可以測量數納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層 

◆痕量元素分析 

◆在有“高可靠性”要求的應用中確定鉛（Pb）含量 

◆硬質鍍層分析

應用 ：

電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護

電鍍液中金屬含量的分析

裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS >

電子行業連接器和觸點上的鍍層等

軟件測試界面：

報告也可以根據客戶需要格式自己設置

也可以直接導出PDF，EXCEL等格式