F20薄膜厚度測量儀
光學常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到
測量厚度從1nm到10mm的*膜厚測量系統
F20薄膜厚度測量儀不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。基于某模塊化設計的特點，F20適用于各種應用：
• 測量厚度、折射率、反射率和穿透率：F20薄膜厚度測量儀
- 單層膜或多層膜疊加
- 單一膜層
- 液態膜或空氣層
• 不同條件下的測量，包括：
- 在平面或彎曲表面
- 光斑小可達20微米
- 桌面式、XY坐標自動化膜厚測量，或在線配置
所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的和互聯網支持（24小時/每周5工作日）。這就是Filmetrics的優勢！歡迎您試一試！
膜層范例
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。
這包括幾乎所有的電介質與半導體材料，例如：
SiNX | TiO2 | DLC |
光刻膠SU-8 | 聚合物 | 有機電致發光器AIQ材料 |
非晶硅 | ITO | 硒化銅銦鎵CIGS |
翌穎科技(上海)有限公司主要為半導體、新能源企業和高校及研發中心提供各類精密進口制程及測量設備。提供全面的一對一*，技術支持，備件管理和咨詢服務。
