牛津表面銅測厚儀CMI165是一款人性化設計、堅固耐用的世界帶溫度補償功能的手持式面銅測厚儀。*的溫度補償功能確保測量結果精確而不受銅箔溫度的影響，儀器配有探針防護罩，確保探針的耐用性；配備探頭照明方便測量時準確定位。
牛津表面銅測厚儀優(yōu)質供應商CMI165性能：
利用微電阻原理通過四針式探頭進行銅厚測量，符合EN 14571測試標準
強大的數據統(tǒng)計分析功能，包括數據記錄、平均數、標準差和上下限提醒功能。
數據顯示單位可選擇mils、¦Ìm或oz
儀器的操作界面有英文和簡體中文兩種語言供選擇
儀器無需特殊規(guī)格標準片，同樣可實現蝕刻后的線型銅箔的厚度測量，可測線寬范圍低至0.2 ¦Ìm (8 mils)
厚度測量范圍：
化學銅：(0.25-12.7)¦Ìm,(0.01-0.5) mils
電鍍銅：(2.0-254)¦Ìm, (0.1-10) mils
儀器再現性：0.08 ¦Ìm at 20 ¦Ìm (0.003 mils at 0.79 mils)
SRP-T1探針可由客戶自行替換，替換后無需再校準即可使用（備用的SRP-T1探頭減少了用戶設備的停工期）
探針的照明功能有助于線型銅箔檢測時的準確定位
牛津表面銅測厚儀優(yōu)質供應商CMI165產品規(guī)格：
--利用微電阻原理通過四針式探頭進行銅厚測量，符合EN 14571測試標準
--厚度測量范圍：化學銅：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils
電鍍銅：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils
--強大的數據統(tǒng)計分析功能，包括數據記錄平均數、標準差和上下限提醒功能。
--數據顯示單位可選擇mils、μm或oz
--儀器的操作界面有英文和簡體中文兩種語言供選擇
--儀器無需特殊規(guī)格標準片，同樣可實現蝕刻后的線型銅箔的厚度測量，可測線寬范圍低至0.2 mm(8mil)
--儀器可以儲存9690條檢測結果（測試日期時間可自行設定）
--測試數據通過USB2.0實現高速傳輸，也可保存為Excel格式文件
--客戶可根據不同應用靈活設置儀器
--用戶可選擇固定或連續(xù)測量模式
--儀器使用普通AA電池供電
牛津表面銅測厚儀優(yōu)質供應商CMI165產品特色：
-- 可測試高溫的PCB銅箔
-- 顯示單位可為mils，μm或oz
-- 可用于銅箔的來料檢驗
-- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試
-- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試
-- 配有SRP-T1，帶有溫度補償功能的面銅測試頭
-- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試
