摘要 介質損耗介電常數測試儀

摘要高頻塑料介電常數測試儀介質損耗因數測特點： ◎ 本公司創新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 ?！?能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角（tanδ）和介電常數（ε）變化的測試。◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，...

摘要介電常數介質損耗測試儀裝置：2.3.1 平板電容器極片尺寸：:38mm和50mm二種.2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， 0.01mm2.3.3 圓筒電容器線性：0.33 pF /mm0.05 pF,2.3.4 圓筒電容器可調范圍：12.5mm（...

摘要介質損耗測試介電常數測量儀：數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至Z低，并保留了原Q表中自動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便， 測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電...

摘要 介電常數工頻測試儀

摘要 絕緣高頻介電常數介質損耗測試儀

摘要 高頻材料介電常數測試儀

摘要 介電常數測試儀生產廠家

摘要 硅膠膜介電常數測試儀高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器，為了提高測量精度，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外，還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。

摘要 工頻介電常數測試儀?是外殼由絕緣套筒及鋼板制成的底和蓋組成，底和蓋用螺栓及環緊固在絕緣套筒的兩端。在電容器的上下兩端有防暈罩。

摘要 絕緣介電常數介質損耗測試儀

摘要北京工頻介電常數介質損耗測試儀廠家哪家電橋的特點； ?橋體內附電位跟蹤器及指零儀，外圍接線及少。?電橋采用接觸電阻小，機械壽命長的十進開關，保證測量的穩定性 ?儀器具有雙屏蔽，能有效防止外部電磁場的干擾。?儀器內部電阻及電容元件經特殊老化處理，使儀器技術性能穩定可靠。...

摘要介電常數和介質損耗測試儀成本價1. 平板電容器極片尺寸：φ25.4mm極片間距可調范圍和分辨率：≥10mm，0.01mm2. 園筒電容器電容量線性：0.33pF / mm0.05 pF長度可調范圍和分辨率：≥0～20mm，0.01mm3. 夾具插頭間距：25mm1m...

摘要介電常數介質損耗測試儀研發廠家是由二只測微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測樣品，園筒電容器是一只分辨率高達0.0033pF的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化...

摘要薄膜介電常數介質損耗測試儀生產廠家1. 平板電容器極片尺寸：φ25.4mm極片間距可調范圍和分辨率：≥10mm，0.01mm2. 園筒電容器電容量線性：0.33pF / mm0.05 pF長度可調范圍和分辨率：≥0～20mm，0.01mm3. 夾具插頭間距：25mm...

摘要介電常數介質損耗測試儀研發廠家是由二只測微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測樣品，園筒電容器是一只分辨率高達0.0033pF的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化...

摘要 該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環氧板等材料做成50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。

摘要 介電常數介質損耗試驗儀滿足標準：GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

摘要Q 值測量范圍 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔 固有誤差 ≤ 5 ％ 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ 滿度值的2％（10MHz～160MHz） 工作誤差 ...

摘要 介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；

摘要?介電常數介質損耗測試儀主要技術特性 Q 值測量范圍 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔 固有誤差 ≤ 5 ％ 工作誤差 ≤7％ 電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH 電容直接測量...

摘要 介電常數介質損耗測試儀技術特性 平板電容器： 極片尺寸：50mm/38mm 可選 極片間距可調范圍：≥15mm 2. 夾具插頭間距：25mm0.01mm 3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 4．測微桿分辨率：0.001mm

摘要 介電常數介質損耗測試儀

摘要介電常數介質損耗測試儀特點： ◎ 本公司創新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 ?！?能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MH...

摘要 介電常數測試儀（高頻）

摘要 電橋式介電常數測試儀電容值Cx、介損值tgδ、試驗電壓Upk/√2 、電感量Lx、 品質因數Q、材料的介電常數ε、測試電源頻率 fx、視在功率S、有效功率P、無功功率Q等均為直讀。　　電橋內有過電壓保護措施。

摘要 介電常數測試儀

摘要安全注意事項4.1 使用前務必詳閱此說明書，并遵照指示步驟，依次操作。4.2 請勿使用非原廠提供之附件，以免發生危險。4.3 進行測試時，本儀器測量端高壓輸出端上有直流高壓輸出，嚴禁人體接觸 ，以免觸電。4.4 為避免測試棒本身絕緣泄漏造成誤差，接儀器測量端輸入的測試...

摘要空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 ...

摘要 介電常數及介質損耗測試儀

摘要 介電常數介質損耗測試儀

摘要 介電常數介質損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

摘要空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 ...

摘要 橡膠片介電常數測試儀雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能

摘要介電常數介質損耗測試儀技術特性 Q 值測量范圍 2 ～ 1023 固有誤差 ≤ 5 ％ 工作誤差 ≤7％ 電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH 電容直接測量范圍 1 ～ 200pF 主電容調節范圍 18 ～ 220pF 主電容調節準確度 1 ...

摘要 介電常數介質損耗測試儀它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

摘要 它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

摘要 它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

摘要 介電常數和介質損耗測試儀由Q表、測試裝置，電感器及標準介質樣品組成，能對絕緣材料進行高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

摘要介電常數及介質損耗測試儀、ZRX-29013概述： ZRX-29013型作為代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前內的160MHz.ZRX-29013介電常數測試儀采用了多項 。雙掃描 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜...

摘要 它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求

摘要 工頻介電常數介質損耗測試儀（液體）橋體本身帶有5Kv/100pF標準電容,測量材料介損更為方便。橋體內附電位跟蹤器及指另儀，外圍接線及少。橋體采用了多樣化的介損測量線路。

摘要 工頻介電常數測試儀儀采用變頻電源技術，利用單片機和電子技術進行自動頻率變換、模/數轉換和數據運算，達到強、測試速度快、精度高、操作簡便的功能。

摘要 50HZ介電常數電容率測試儀、實現波形和測量處理數據同屏顯示，使測試過程更直觀；具有設置、校正和調試功能。

摘要相對介電常數測試儀采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至并保留了原Q...