資料簡介
方塊電阻測試儀/電阻測試儀 型號:SRM-232-100
SRM-232-100型方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質的薄層電阻。
◆ 特點:
1 輕便手持式設計
2 127個數據測試點保存
3 通過RS-232與電腦通訊
◆ 技術指標:
SRM-232-10 測量范圍: 0.000~9.999(Ω/□)
分辨率:0.004(Ω/□)
SRM-232-100 測量范圍:00.00~95.00(Ω/□)
分辨率:0.04(Ω/□)
SRM-232-1000 測量范圍0~1000(Ω/□)
分辨率:0.4(Ω/□)
SRM-232-2000 測量范圍:0~2000(Ω/□)
分辨率:0.8(Ω/□)
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